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| 标准编号 | GB/T 13166-2018 (GB/T13166-2018) | | 中文名称 | 电子测量仪器设计余量与模拟误用试验 | | 英文名称 | Design Margin and Abuse Tests for Electronic Measuring Instrument | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L85 | | 国际标准分类 | 17.220 | | 字数估计 | 10,134 | | 发布日期 | 2018-06-07 | | 实施日期 | 2019-01-01 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 | GB/T 13166-2018: 电子测量仪器设计余量与模拟误用试验
GB/T 13166-2018 英文名称: Design margin and abuse tests for electronic measuring instrument
1 范围
本标准规定了电子测量仪器(以下简称仪器)新产品在设计时应进行的设计余量与模拟误用试验。
本标准适用于所有环境组别的电子测量仪器。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB 4824 工业、科学和医疗(ISM)射频设备 骚扰特性 限值和测量方法
GB/T 6587 电子测量仪器通用规范
GB/T 17626.2 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验
GB/T 17626.3 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验
GB/T 17626.4 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群骚扰抗扰度试验
GB/T 17626.6 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度试验
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
设计余量
在设计时对产品的关键参数保留的裕度,其中包括安全因素和性能因素。
3.2
模拟误用
使用者不按照操作规程进行的,可能会对仪器性能和指标造成影响,严重时甚至会损坏仪器和被测
件甚至对人身造成伤害的操作。
4 设计余量
4.1 通则
4.1.1 仪器的三级指标
仪器设计阶段的指标分为合同指标、内控指标和调试指标三个等级。
4.1.2 仪器设计余量内容
仪器正式设计之前,应对目标仪器的全寿命周期中规定的环境条件与应力变量做全面分析并科学
地制定足够的设计余量,将设计余量与最优系统效能、电磁兼容性、安全性、易生产性等要求综合权衡以确定合理的设计方案。
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