搜索结果: GB/T 18032-2000, GB/T18032-2000, GBT 18032-2000, GBT18032-2000
| 标准编号 | GB/T 18032-2000 (GB/T18032-2000) | | 中文名称 | 砷化镓单晶AB微缺陷检验方法 | | 英文名称 | The inspecting method of AB microscopic defect in gallium arsenide single crystal | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | H24 | | 国际标准分类 | 77.040.01 | | 字数估计 | 7,752 | | 发布日期 | 2000-04-03 | | 实施日期 | 2000-09-01 | | 发布机构 | 国家质量技术监督局 | | 范围 | 本标准规定了砷化镓单晶AB微缺陷的检验方法。本标准适用于砷化镓单晶AB微缺陷密度(AB-EPD)的检验。检验面为(100)面。测量范围小于5×10^5cm^-^2。 | ......
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