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| 标准编号 | GB/T 22319.11-2018 (GB/T22319.11-2018) | | 中文名称 | 石英晶体元件参数的测量 第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法 | | 英文名称 | Measurement of quartz crystal unit parameters -- Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency fL and the effective load capacitance C Leff using automatic network analyzer techniques and error correction | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L21 | | 国际标准分类 | 31.140 | | 字数估计 | 14,139 | | 发布日期 | 2018-03-15 | | 实施日期 | 2018-10-01 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 | GB/T 22319.11-2018
Measurement of quartz crystal unit parameters--Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency fL and the effective load capacitance C Leff using automatic network analyzer techniques and error correction
ICS 31.140
L21
中华人民共和国国家标准
石英晶体元件参数的测量
第11部分:采用自动网络分析技术和
误差校正确定负载谐振频率和
有效负载电容的标准方法
(IEC 60444-11:2010,IDT)
2018-03-15发布 2018-10-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
前言
GB/T 22319《石英晶体元件参数的测量》分为以下部分:
---第1部分:用π型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法;
---第2部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法;
---第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率和负载谐振电阻RL的测量方法及其他
导出参数的计算;
---第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法;
---第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量;
---第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量;
---第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具;
---第9部分:石英晶体元件寄生谐振的测量;
---第11部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准
方法。
本部分为GB/T 22319的第11部分。
本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本部分使用翻译法等同采用IEC 60444-11:2010《石英晶体元件参数的测量 第11部分:采用自动
网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率fL和有效负载电容CLeff的标准方法》。
与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:
---GB/T 12273.1-2017 有质量评定的石英晶体元件 第1部分:总规范(IEC 60122-1:2002,
MOD)
---SJ/T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量 第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负
载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算(IEC 60444-4:1988,
IDT)
本部分作了下列编辑性修改:
---3.1中“负载谐振频率fL是二个频率中较低的频率”改为“实用中,负载谐振频率fL是二个频
率中较低的频率”;
---4.2b)的式(5)分母中“Z3(V2-V2)”改为“Z3(V1-V2)”;
---图2中的图例,虚线表示“XC(Ω)”改为“VC”,实线表示“VC”改为“XC(Ω)”。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口。
本部分起草单位:中国电子元件行业协会压电晶体分会、南京中电熊猫晶体科技有限公司、郑州原
创电子科技有限公司。
本部分主要起草人:章怡、高志祥、邹飞。
石英晶体元件参数的测量
第11部分:采用自动网络分析技术和
误差校正确定负载谐振频率和
有效负载电容的标准方法
1 范围
GB/T 22319的本部分规定了石英晶体元件的优值M 大于4时,标称负载电容CL对应的石英晶体
元件负载谐振频率fL以及标称频率时有效负载电容CLeff的测量方法。
按照IEC 60122-1:2002中表1中的定义,M 用式(1)表征:
M =
γ =
ωC0R1
(1)
式中:
M ---石英晶体元件的优值;
Q ---品质因数;
γ ---电容比;
ω ---角频率,单位为弧度每秒(rad/s);
C0---等效电路中的并电容,单位为法拉(F);
R1---等效电路中的动态电阻,单位为欧姆(Ω)。
频率达200MHz及以下时,本部分能得出良好的结果,并可由此计算得出负载谐振频率偏置ΔfL,
频率牵引范围ΔfL1,L2及按照IEC 60122-1:2002中2.2.31的定义计算牵引灵敏度S。与IEC 60444-4
的简易测量相反,本测量技术避免了使用物理负载电容,因此有更高的测量准确度,更好的重现性及相
关应用。本部分还突破了IEC 60444-4的频率上限30MHz,测量上限达200MHz。本部分基于
SJ/T 11211-1999的误差校正测量技术,因此在确定fL和CLeff的同时无需改变测试夹具,一次得到石
英晶体元件的多个等效电参数。
本部分中,当石英晶体的电抗XC与负载电容的电抗XCL数值相等且符号相反时,就得到了频率fL
[见式(2)]:
XC=-XCL=
ωLCL
(2)
式中:
XC ---石英晶体的电抗,单位为欧姆(Ω);
XCL---负载电容的电抗,单位为欧姆(Ω);
ωL ---有负载电容时的角频率,单位为弧度每秒(rad/s);
CL ---......
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