GB/T 22319.7-2015 相关标准英文版PDF

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GB/T 22319.7-2015	英文版	134	GB/T 22319.7-2015	[PDF]天数 <=3	石英晶体元件参数的测量第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量	GB/T 22319.7-2015	有效

基本信息
标准编号	GB/T 22319.7-2015 (GB/T22319.7-2015)
中文名称	石英晶体元件参数的测量第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量
英文名称	Measurement of quartz crystal unit parameters -- Part 7: Measurement of activity dips of quartz crystal units
行业	国家标准 (推荐)
中标分类	L21
国际标准分类	31.140
字数估计	7,748
发布日期	2015-06-02
实施日期	2016-02-01
采用标准	IEC 60444-7-2004, IDT
标准依据	国家标准公告2015年第19号
发布机构	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
范围	GB/T 22319的本部分规定了在温度范围内石英晶体元件活性跳变的测量方法。

GB/T 22319.7-2015 Measurement of quartz crystal unit parameters.Part 7:Measurement of activity dips of quartz crystal units ICS 31.140 L21 中华人民共和国国家标准石英晶体元件参数的测量第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量 2015-06-02发布 2016-02-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布前言 GB/T 22319《石英晶体元件参数的测量》分为如下几部分: ---第1部分:用π型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法; ---第2部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法; ---第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率和负载谐振电阻RL 的测量方法及其他导出参数的计算; ---第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法; ---第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量; ---第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量; ---第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具; ---第9部分:石英晶体元件寄生谐振的测量。本部分为GB/T 22319的第7部分。本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。本部分使用翻译法等同采用IEC 60444-7:2004《石英晶体元件参数的测量第7部分:石英晶体元件活性跳变和频率跳变的测量》。本部分作了下列编辑性修改: ---将表1中脚注“*”改为脚注“a”; ---将3.3中评估公式序号(A)~(D)分别改为a)~d); ---删除评估公式a)前面的“频率跳变”和公式c)前面的“活性跳变”。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。本部分由全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口。本部分起草单位:中国电子元件行业协会压电晶体分会、南京中电熊猫晶体科技有限公司、唐山晶源裕丰电子股份有限公司、郑州原创电子科技有限公司。本部分主要起草人:章怡、梁生元、胡志雄、邹飞。石英晶体元件参数的测量第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量 1 范围 GB/T 22319的本部分规定了在温度范围内石英晶体元件活性跳变的测量方法。 2 术语和定义下列术语和定义适用于本文件。 2.1 活性跳变 activitydip 石英晶体元件在规定负载电容及激励电平下,在窄温度范围内由不同振动模式的耦合而引起负载谐振频率和(或者)谐振电阻的不希望的变化(见图1及图2)。 2.2 石英晶体元件在窄的温度范围内发生的不希望的扰......

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