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GB/T 27760-2011 相关标准英文版PDF

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GB/T 27760-2011 英文版 329 GB/T 27760-2011 [PDF]天数 <=3 利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法 GB/T 27760-2011 有效
基本信息
标准编号 GB/T 27760-2011 (GB/T27760-2011)
中文名称 利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
英文名称 Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at sub-nanometer displacement levels using si (111) monatomic steps
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 N04
国际标准分类 19.020
字数估计 14,177
发布日期 2011-12-30
实施日期 2012-05-01
引用标准 ISO 25178-6-2010; ISO/IEC GUIED 98-3-2008; ISO/TS 21748-2004
采用标准 ASTM E2530-2006, MOD
标准依据 国家标准批准发布公告2011年第22号
发布机构 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
范围 本标准规定了利用Si(111)晶面原子台阶高度样品校准原子力显微镜z向标度的测量方法。本标准适用于在大气或真空环境下工作的原子力显微镜, 并且其z向放大倍率达到最大量级, 即z向位移在纳米和亚纳米范围内, 这是原子力显微镜用于检测半导体表面, 光学器件表面和其他高科技元件表面中经常用到的检测范围。本标准并未指出所有可能的安全问题, 在应用本标准之前, 使用者有责任采取适当的安全和健康措施, 并保证符合国家有关法规规定的条件。

GB/T 27760-2011 Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps ICS 19.020 N04 中华人民共和国国家标准 利用Si(111)晶面原子台阶对原子力 显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法 2011-12-30发布 2012-05-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会发布 前言 本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。 本标准与ASTME2530-2006《利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行 校准的方法》(英文版)技术内容基本一致。 考虑到我国国情,在采用ASTME2530-2006时,本标准做了一些修改,有关技术性差异已编入 正文中。附录A(规范性附录)中给出样品制备方法,附录B(资料性附录)中列出了本标准章条编号与 ASTME2530-2006章条编号的对照一览表,附录C(资料性附录)中给出了技术性差异及其原因一览 表以供参考。 本标准由中国科学院提出。 本标准由全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC279)归口。 本标准起草单位:国家纳米科学中心。 本标准主要起草人:朱晓阳、杨延莲、贺蒙、高洁。 利用Si(111)晶面原子台阶对原子力 显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法 1 范围 本标准规定了利用Si(111)晶面原子台阶高度样品校准原子力显微镜z向标度的测量方法。 本标准适用于在大气或真空环境下工作的原子力显微镜,并且其z向放大倍率达到最大量级,即z 向位移在纳米和亚纳米范围内,这是原子力显微镜用于检测半导体表面,光学器件表面和其他高科技元 件表面中经常用到的检测范围。 本标准并未指出所有可能的安全问题,在应用本标准之前,使用者有责任采取适当的安全和健康措 施,并保证符合国家有关法规规定的条件。 注:本标准中以国际单位制规定的数值作为标准值,括号内插入的数值仅供参考。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 ISO 25178-6:2010 产品几何量技术规范(GPS)表面结构 区域法 第6部分:表面结构测量方 ISO/T S21748:2004 测量不确定度评估的重复性、再现性和准确度评估的使用指南(Guidance tion) 3 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 3.1 通过检测探针与样品表面相互作用力(吸引力或排斥力)来获得表面高度进而得到样品表面形貌的 检测技术。 3.2 坐标轴 coordinateaxes 检测表面形貌时使用的坐标系。 注......

英文网页English: GB/T 27760-2011

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