GB/T 34326-2026 相关标准英文版PDF

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标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	详情	状态
GB/T 34326-2026	英文版	RFQ	询价	[PDF]天数 <=3	表面化学分析深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度的测量方法	GB/T 34326-2026	有效
GB/T 34326-2017	英文版	359	GB/T 34326-2017	[PDF]天数 <=4	表面化学分析　深度剖析　AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法	GB/T 34326-2017	有效

基本信息
标准编号	GB/T 34326-2026 (GB/T34326-2026)
中文名称	表面化学分析深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度的测量方法
英文名称	Surface chemical analysis - Depth profiling - Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
行业	国家标准 (推荐)
中标分类	G04
国际标准分类	71.040.40
发布日期	2026-01-28
实施日期	2026-08-01
旧标准 (被替代)	GB/T 34326-2017