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GB/T 39159-2020 相关标准英文版PDF

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GB/T 39159-2020 英文版 209 GB/T 39159-2020 [PDF]天数 <=3 集成电路用高纯铜合金靶材 GB/T 39159-2020 有效
基本信息
标准编号 GB/T 39159-2020 (GB/T39159-2020)
中文名称 集成电路用高纯铜合金靶材
英文名称 High purity copper alloy target for integrated circuit
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 H62
国际标准分类 77.150.30
字数估计 11,128
发布日期 2020-11-19
实施日期 2021-10-01
标准依据 国家标准公告2020年第26号
发布机构 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

GB/T 39159-2020 (High purity copper alloy target for integrated circuit) ICS 77.150.30 H62 中华人民共和国国家标准 集成电路用高纯铜合金靶材 2020-11-19发布 2021-10-01实施 国 家 市 场 监 督 管 理 总 局 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布 前言 本标准按照 GB/T 1.1-2009给出的规则起草。 本标准由中国有色金属工业协会提出。 本标准由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)归口。 本标准起草单位:宁波江丰电子材料股份有限公司、有研亿金新材料有限公司、宁波微泰真空技术 有限公司。 本标准主要起草人:曹欢欢、袁海军、姚力军、王学泽、曾浩、边逸军、钟伟华、周友平、贺昕、慕二龙、 高岩、江伟龙。 集成电路用高纯铜合金靶材 1 范围 本标准规定了集成电路用高纯铜合金靶材(以下简称靶材)的分类、技术要求、试验方法、检验规则 及标志、包装、运输、贮存、质量证明书和订货单(或合同)内容。 本标准适用于集成电路制造用的高纯铜铝(CuAl)合金靶材和高纯铜锰(CuMn)合金靶材。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 8170 数值修约规则与极限数值的表示和判定 GB/T 8651 金属板材超声板波探伤方法 GB/T 14265 金属材料中氢、氧、氮、碳和硫分析方法通则 GB/T 36165 金属平均晶粒度的测定 电子背散射衍射(EBSD)法 YS/T 347 铜及铜合金 平均晶粒度测定方法 YS/T 482 铜及铜合金分析方法 光电发射光谱法 YS/T 837 溅射靶材-背板结合质量超声波检验方法 YS/T 922 高纯铜化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 3 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 3.1 靶材 在溅射沉积技术中的阴极部分。该阴极材料在带正电荷的阳离子撞击下以分子、原子或离子的形 式脱离阴极而在阳极表面沉积。 3.2 靶坯 阴极上用作溅射材料的材料。 3.3 背板 用来支撑或固定靶材的材料。 注:靶坯与背板可以通过焊接(如钎焊、电子束焊、扩散焊等)、机械复合、粘接等方式连接。 3.......

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