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GB/T 39842-2021 相关标准英文版PDF

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GB/T 39842-2021 英文版 409 GB/T 39842-2021 [PDF]天数 <=4 集成电路(IC)卡封装框架 GB/T 39842-2021 有效
基本信息
标准编号 GB/T 39842-2021 (GB/T39842-2021)
中文名称
英文名称 Integrated circuit (IC) card packaging framework
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 L56
字数估计 22,280
发布机构 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

GB/T 39842-2021 Itegrated circuit (IC) card packaging framework ICS 31.200 L56 中华人民共和国国家标准 集成电路(IC)卡封装框架 2021-03-09发布 2021-07-01实施 国 家 市 场 监 督 管 理 总 局 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布 前言 本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布 机构不承担识别这些专利的责任。 本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本标准由全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC78)归口。 本标准起草单位:山东新恒汇电子科技有限公司。 本标准主要起草人:朱林、邵汉文、王广南、陈铎。 集成电路(IC)卡封装框架 1 范围 本标准规定了集成电路(IC)卡封装框架(以下简称IC卡封装框架)的技术要求、检验方法、检验规 则、包装、贮存和运输。 本标准适用于IC卡封装框架,包括接触式IC卡封装框架和非接触式IC卡封装框架。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有修改单)适用于本文件。 GB/T 2423.2 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温 GB/T 2423.17 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ka:盐雾 GB/T 2423.50 环境试验 第2部分:试验方法 试验Cy:恒定湿热 主要用于元件的加速试验 GB/T 2423.51-2020 环境试验 第2部分:试验方法 试验Ke:流动混合气体腐蚀试验 GB/T 2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划 GB/T 3922 纺织品 色牢度试验 耐汗渍色牢度 GB/T 13557 印制电路用挠性覆铜箔材料试验方法 GB/T 16545-2015 金属和合金的腐蚀 腐蚀试样上腐蚀产物的清除 GB/T 16649.2 识别卡 带触点的集成电路卡 第2部分:触点的尺寸和位置 GB/T 16921-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱法 GB/T 17554.1 识别卡 测试方法 第1部分:一般特性测试 GB/T 25933-2010 高纯金 GB/T 25934-2010(所有部分) 高纯金化学分析方法 GB/T 32642-2016 平板显示器基板玻璃表面粗糙度的测量方法 3 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 3.1 由绝缘材料与带图形的导电材料叠压而成,是保护芯片的载体,也是芯片与外部设备进行信息交换 的接口。 ......

英文网页English: GB/T 39842-2021

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