搜索结果: GB/T 43226-2023, GB/T43226-2023, GBT 43226-2023, GBT43226-2023
| 标准编号 | GB/T 43226-2023 (GB/T43226-2023) | | 中文名称 | 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法 | | 英文名称 | Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | V25 | | 国际标准分类 | 49.140 | | 字数估计 | 10,139 | | 发布日期 | 2023-09-07 | | 实施日期 | 2024-01-01 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 | GB/T 43226-2023: 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
ICS 49.140
CCSV25
中华人民共和国国家标准
宇航用半导体集成电路单粒子软错误
时域测试方法
2023-09-07发布
2024-01-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC425)提出并归口。
本文件起草单位:北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院。
本文件主要起草人:赵元富、陈雷、王亮、岳素格、郑宏超、李哲、林建京、李永峰、陈淼、王汉宁。
宇航用半导体集成电路单粒子软错误
时域测试方法
1 范围
本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样
品、试验步骤、试验报告。
本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文
件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于
本文件。
GB 18871-2002 电离辐射防护与辐射源安全基本标准
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
对电路造成非破坏性影响的一系列单粒子效应的总称。
注:如单粒子翻转、单粒子瞬态、单粒子功能中断。
3.2
时域测试 time-domaintest
测试被测对象的特征参数随时间的变化关系。
3.3
单粒子效应 singleeventeffect
单个粒子穿过集成电路敏感区域,电离产生的电子-空穴对被电场收集形成脉冲电流,导致集成电
路辐射损伤的现象。
3.4
单粒子翻转 singleeventupset
单粒子效应导致集成电路逻辑状态翻转的现象。
3.5
单粒子瞬态 singleeventtransient
单粒子效应导致集成电路输出异常脉冲信号的现象。
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