搜索结果: GB/T 43341-2023, GB/T43341-2023, GBT 43341-2023, GBT43341-2023
| 标准编号 | GB/T 43341-2023 (GB/T43341-2023) | | 中文名称 | 纳米技术 石墨烯的缺陷浓度测量 拉曼光谱法 | | 英文名称 | Nanotechnology - Measurement of defect concentration of graphene - Raman spectroscopy method | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | G30 | | 国际标准分类 | 71.040.50 | | 字数估计 | 26,283 | | 发布日期 | 2023-11-27 | | 实施日期 | 2024-06-01 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 | GB/T 43341-2023: 纳米技术 石墨烯的缺陷浓度测量 拉曼光谱法
ICS 71.040.50
CCSG30
中华人民共和国国家标准
纳米技术 石墨烯的缺陷浓度测量
拉曼光谱法
2023-11-27发布
2024-06-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅰ
引言 Ⅱ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 原理 3
5 仪器设备 4
6 样品准备 4
7 试验步骤 5
8 数据分析与处理 5
9 测量不确定度 6
10 试验报告 7
附录A(资料性) 典型的石墨烯拉曼光谱 8
附录B(资料性) 典型测试实例 9
附录C(资料性) 试验报告示例 21
参考文献 22
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中国科学院提出。
本文件由全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC279)归口。
本文件起草单位:泰州石墨烯研究检测平台有限公司、东南大学、中国科学院大连化学物理研究所、
厦门凯纳石墨烯技术股份有限公司、广东德瑞源新材料科技有限公司、泰州巨纳新能源有限公司、江南
大学、哈尔滨工业大学(威海)、绍兴文理学院、上海海洋大学、上海巨纳科技有限公司。
本文件主要起草人:倪振华、吕俊鹏、梁铮、章琦、吴忠帅、孙学栋、丁荣、南海燕、郭丁立、洪江彬、
王英英、方崇卿、梁奇锋、梁贺君、袁文军。
引 言
石墨烯由排列成六边形蜂窝状晶格的单层碳原子构成,因其出色的电学、光学、力学和热学性能,例
如高迁移率、高透光率、良好的柔韧性和高热导率,在诸多领域具有广泛的应用前景。缺陷浓度作为评
估石墨烯质量的重要参数,对其迁移率、热导率、力学性能等有着重要影响,因此对石墨烯进行缺陷浓度
的测量,不仅能从科学角度揭示其本征性质,同时也能为石墨烯的生产和应用提供技术指导。
拉曼光谱技术具有高效、准确、无损、样品制备简易,且能进行大面积测量等优点,已经被广泛应用
在石墨烯的质量检测中。拉曼光谱技术能测量石墨烯的多种性质,例如层数、掺杂水平、应力大小以及
缺陷浓度等。在特定激发光能量下,石墨烯的缺陷浓度与其拉曼光谱D模和G模的峰面积比值直接关
联,因此能通过拉曼光谱测量石墨烯的缺陷浓度。
纳米技术 石墨烯的缺陷浓度测量
拉曼光谱法
警告:本文件涉及使用激光器,其产生的激光可能对眼睛产生不可逆的损伤。使用激光器时建议佩
戴对应的激光防护眼镜,避免眼睛直视激光,导致激光经光学元件反射进入眼睛。同时建议操作人员接
受相关安全培训。
1 范围
本文件描述了利用拉曼光谱法测量石墨烯缺陷浓度的方法,包括原理、仪器参数要求、样品准备、试
验步骤及数据分析与处理。
本文件适用于横向尺寸不小于2μm、物性均匀、表面洁净的单层石墨烯的点缺陷浓度测量。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文
件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于
本文件。
GB/T 33252 纳米技术 激光共聚焦显微拉曼光谱仪性能测试
JJF1544 拉曼光谱仪校准规范
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
石墨烯 graphene
石墨烯层 graphenelayer
单层石墨烯 single-layergraphene;monolayergraphene
由一个碳原子与周围三个近邻碳原子结合形成蜂窝状结构的碳原子单层。
注1:它是许多碳纳米物体的重要构建单元。
注2:由于石墨烯仅有一层,因此通常被称为单层石墨烯。石墨烯缩写为1LG,以便区别于缩写为2LG的双层石墨
烯和缩写为FLG的少层石墨烯。
注3:石墨烯有边界,并且在碳-碳键遭到破坏的地方有缺陷和晶界。
[来源:GB/T 30544.......
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