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GB/T 45505.5-2025 相关标准英文版PDF

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GB/T 45505.5-2025 英文版 279 GB/T 45505.5-2025 [PDF]天数 <=3 平板显示器基板玻璃测试方法 第5部分:光电性能 GB/T 45505.5-2025 有效
基本信息
标准编号 GB/T 45505.5-2025 (GB/T45505.5-2025)
中文名称 平板显示器基板玻璃测试方法 第5部分:光电性能
英文名称 Test method of flat panel display glass substrate - Part 5: Photoelectric performance
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 L90
国际标准分类 31.030
字数估计 14,184
发布日期 2025-08-01
实施日期 2026-02-01
发布机构 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

GB/T 45505.5-2025: 平板显示器基板玻璃测试方法 第5部分:光电性能 ICS 31.030 CCSL90 中华人民共和国国家标准 平板显示器基板玻璃测试方法 第5部分:光电性能 2025-08-01发布 2026-02-01实施 国 家 市 场 监 督 管 理 总 局 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布 前言 本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草。 本文件是GB/T 45505《平板显示器基板玻璃测试方法》的第5部分。GB/T 45505已经发布了以 下部分: ---第1部分:外观与几何尺寸; ---第2部分:表面性能; ---第3部分:热学性能; ---第4部分:力学性能; ---第5部分:光电性能。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)提出并归口。 本文件起草单位:彩虹集团有限公司、中国电子技术标准化研究院、彩虹显示器件股份有限公司、 河北光兴半导体技术有限公司、蚌埠中光电科技有限公司、彩虹集团(邵阳)特种玻璃有限公司、石家庄 旭新光电科技有限公司、湖南邵虹特种玻璃股份有限公司、郑州旭飞光电科技有限公司、中建材玻璃新 材料研究院集团有限公司、甘肃旭盛显示科技有限公司、芜湖东旭光电科技有限公司、浙江创柔显示科 技有限公司、东旭集团有限公司、新疆腾宇光电科技有限公司、武汉精测电子集团股份有限公司、深圳市 锐欧光学股份有限公司、深圳市国显科技有限公司、深圳市裕融科技有限公司、青岛融合光电科技有限 公司、浙江宝泰电子有限公司、浙江星柯光电科技有限公司。 本文件主要起草人:陈晓宁、杨国洪、吴怡然、李青、赵俊莎、李淼、曹志强、仵小曦、曹可慰、徐莉华、 胡恒广、金良茂、杨荣、高羽、薛新建、沈玉国、石志强、李靖波、刘正茂、刘俊、江志文、史泽远、张晓春、 张宝帅、朱明柳、曹欣、张玉娇、李赫然、何怀胜、郑权、王世岚、石丽芬、李瑞佼、斯沿阳、姚文龙、苏记华、 张文亮、崔介东、杨懿、张占永、倪嘉、韦泽光、胡文涛、刘荣华、杜青、欧木兰、方学森、郑攀、杨道辉、张盼。 引 言 平板显示器基板玻璃是电子信息显示产业的关键战略材料,基板玻璃质量与面板成品的分辨率、透 光度、厚度、重量、可视角度等指标密切相关,代表着全球现代玻璃规模化制造领域的最高水平。在显示 基板玻璃不断高清化、大尺寸化、超薄化的情况下,对显示基板玻璃的质量要求逐年提高。 外观、长宽尺寸及偏差、厚度偏差、厚薄差、边缘形状、切角偏差、定位角偏差、直角度、挠度、翘曲度、 表面粗糙度、波纹度、退火点、应变点、软化点、平均线热膨胀系数、导热系数、再热线收缩率、密度、应力、 杨氏模量、剪切模量、泊松比、维氏硬度、透过率、折射率、体积电阻率、介电常数和介质损耗因数是平板 显示器基板玻璃的重要指标,这些指标会影响平板显示器基板玻璃的产品质量,因此有必要确立平板显 示器基板玻璃测试方法。 GB/T 45505旨在给出平板显示器基板玻璃各项性能测试方法,拟由五个部分构成。 ---第1部分:外观与几何尺寸。目的在于提供平板显示器基板玻璃外观与几何尺寸的测试方法。 ---第2部分:表面性能。目的在于提供平板显示器基板玻璃表面性能的测试方法。 ---第3部分:热学性能。目的在于提供平板显示器基板玻璃热学性能的测试方法。 ---第4部分:力学性能。目的在于提供平板显示器基板玻璃力学性能的测试方法。 ---第5部分:光电性能。目的在于提供平板显示器基板玻璃光电性能的测试方法。 平板显示器基板玻璃测试方法 第5部分:光电性能 1 范围 本文件描述了平板显示器基板玻璃的透过率、折射率、体积电阻率、介电常数、介质损耗因数的测试 方法。 本文件适用于平板显示器用基板玻璃的测试。 2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文 件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于 本文件。 GB/T 10580-2015 固体绝缘材料在试验前和试验时采用的标准条件 GB/T 26810 可见分光光度计 GB/T 31838.6-2021 固体绝缘材料 介电和电阻特性 第6部分:介电特性(AC方法) 相对 介电常数和介质损耗因数(频率0.1Hz~10MHz) GB/T 32639 平板显示器基板玻璃术语 3 术语和定义 GB/T 32639界定的术语和定义适用于本文件。 4 试验环境 除特殊规定外,试验均应在下述环境条件下进行。 a) 温度:25℃±5℃。 b) 相对湿度:40%~70%。 5 试验方法 5.1 透过率 5.1.1 试验原理 利用可见光分光光度计测试指定波长范围内的透过率,光垂直入射于透明物体时,透射光和入射光 的光通量之比即为试样的透过率,在不同的波长下,试样的透过率不同。 5.1.2 试验装置 可见分光光度计的性能应符合GB/T 26810中规定的要求。同时应符合以下要求: a) 波长范围为380nm~780nm; b) 波长间隔小于或等于2nm。 5.1.3 试样要求 试样应为没有结石、气泡和条纹等缺陷的基板玻璃。厚度不应超过20mm,数量为3个。 5.1.4 试验步骤 试验按照下列步骤进行: a) 将试样清洗干净; b) 开启分光光度计,预热至稳定状态; c) 波长范围选择380nm~780nm; d) 波长间隔选择10nm; e) 将试样放入仪器的样品室进行测试。 5.1.5 数据处理 数据处理步骤如下。 a) 透过率τv采用公式(1)计算: τv= 780 λ=380 τ(λ)DλV(λ)Δλ 780 λ=380 DλV(λ)Δλ (1) 式中: τv ---试样的透过率,%; λ ---波长,单位为纳米(nm); τ(λ) ---试样的光谱透过率,%; Dλ ---标准照明体D65的相对光谱功率分布; V(λ) ---CIE标准视见函数; Δλ ---波长间隔; DλV(λ)Δλ---标准照明体D65的相对光谱分布Dλ与CIE标准视见函数V(λ)和波长间隔 Δλ的乘积。DλV(λ)Δλ的值见表1。 表1 DλV(λ)Δλ的值 λ/nm DλV(λ)Δλ×102 380 0.0000 390 0.0005 400 0.0030 410 0.0103 420 0.0352 430 0.0948 440 0.2274 450 0.4192 460 0.6663 470 0.9850 λ/nm DλV(λ)Δλ×102 480 1.5189 490 2.1336 500 3.3491 510 5.1393 520 7.0523 530 8.7990 540 9.4427 550 9.8077 560 9.4309 570 8.6891 表1 DλV(λ)Δλ的值 (续) λ/nm DλV(λ)Δλ×102 580 7.8994 590 6.3306 600 5.3542 610 4.2491 620 3.1502 630 2.0812 640 1.3810 650 0.8070 660 0.4612 670 0.2485 680 0.1255 λ/nm DλV(λ)Δλ×102 690 0.0536 700 0.0276 710 0.0146 720 0.0057 730 0.0035 740 0.0021 750 0.0008 760 0.0001 770 0.0000 780 0.0000 - - b) 记录表1波长范围内透过率曲线作为测试结果,选取550nm波长所对应的透过率,作为试样 的透过率。 c) 取3个试样测量数据的平均值作为结果,数值保留两位小数。 5.2 折射率 5.2.1 试验原理 当单色平行光束垂直入射到V棱镜后,经V棱镜和试样玻璃的多次折射,出射光线发生偏折,根据 折射定律,得出试样玻璃的折射率,V棱镜测试原理图如图1所示。 标引序号(符号)说明: 1 ---入射光; 2 ---出射光; n ---被测试样的折射率; n0---V棱镜的折射率; θ ---光束从V棱镜最后一面出射时的偏折角。 图1 V棱镜测试原理图 5.2.2 试验装置 测试装置应符合以下要求。 a) 折射率测试装置由聚光镜、滤光片、分划板、平行光管物镜、V棱镜、望远镜物镜、目镜、度盘、显 微物镜组成,具体如图2所示。 标引序号说明: 1 ---聚光镜; 2 ---滤光片; 3 ---分划板; 4 ---平行光管物镜; 5 ---被测试样; 6 ---V棱镜; 7 ---望远镜物镜; 8 ---分划板; 9 ---目镜; 10---度盘; 11---显微物镜; 12---测微目镜。 图2 折射率测试装置 b) 每台仪器配备4块V棱镜和0点标样,其折射率及折射率测试范围如表2所示。 表2 V棱镜及0点标样折射率及折射率测试范围 V棱镜编号 V棱镜及0点标样的折射率 折射率测量范围 1 约1.51(K5) 1.30~1.70 2 约1.65(ZF1) 1.40~1.80 表2 V棱镜及0点标样折射率及折射率测试范围 (续) V棱镜编号 V棱镜及0点标样的折射率 折射率测量范围 3 约1.75(ZF6) 1.60~1.90 4 约1.88(ZLaF68) 1.80~2.00 c) 每台仪器配备配置5种光谱灯,10种波长滤光片,如表3所示。 表3 光谱灯及波长 光谱线 汞紫线 汞红线 镉蓝线 F' 氢蓝线 汞绿线 氦黄线 钠黄线 镉红线 C' 氢红线 氦红线 元素符号 Hg Hg Cd H Hg He Na Cd H He 波长/nm 404.7 435.8 480.0 486.1 546.1 587.6 589.3 643.9 656.3 706.5 5.2.3 试样要求 试样应为没有结石、气泡和条纹等缺陷的基板玻璃,长宽尺寸应为25mm×25mm,其中一角为 90°,数量为3个。 5.2.4 试验步骤 试验按照下列步骤进行: a) 测量前,试样应放在测试室恒温0.5h以上; b) 用0级宽座直角尺检查试样角度; c) 根据被测试样折射率高低选择相应的V棱镜和0点标样; d) 根据测试要求选择光谱灯及谱线波长; e) 擦净V棱镜,在0点标样的通光面涂上规定的折射液,放入V棱镜内,仔细贴置,排除其间的 气泡,接通电源,点燃光源,读取θ0; f) 取下标样,擦净V棱镜,在被测试样的通光面涂上规定的折射液,放入V棱镜内,仔细贴置,排 除其间的气泡,读取θ1; g) 计算θ(θ=θ1-θ0),将θ、n0 值代入公式(2)计算被测试样测试谱线波长的折射率n。 5.2.5 数据处理 数据处理步骤如下: a) 被测试样的折射率根据公式(2)计算: n= n20+sinθ n20-sin2θ() 2 (2) 式中: n ---被测试样的折射率; n0---V棱镜的折射率; θ ---光束从V棱镜最后一面出射时的偏折角,单位为度(°)。 b) 取3个试样测量数据的平均值作为结果,数值保留两位小数。 5.3 体积电阻率 5.3.1 试验装置 体积电阻率测试装置由电压源、皮安表、弹簧附件、炉体、屏蔽盒、刚玉棒、电极、试样、刚玉支架、陶 瓷绝缘体组成,具体如图3所示。 标引序号说明: 1 ---电压源; 2 ---皮安表; 3 ---弹簧附件; 4 ---炉体; 5 ---屏蔽盒; 6 ---刚玉棒; 7 ---电极; 8 ---试样; 9 ---刚玉支架; 10---陶瓷绝缘体。 图3 体积电阻率测试装置 5.3.2 试样要求 试样要求具体如下。 a) 试样应为没有结石、气泡和条纹等缺陷的基板玻璃,长宽尺寸应为50mm×50mm,试样数量 至少为3个。 b) 在加装电极前,至少在5个不同的点上测量试样的厚度,并计算平均厚度h。在试样表面两侧 相对居中位置制备直径为30mm~38mm的金属电极,优选铂金,如使用银或铜,应确保在测 试温度下金属不会迁移至试样内部氧化。试样厚度和电极尺寸的精确度要求为±1%。 c) 试样的条件处理和预处理应按照GB/T 10580-2015中表2(标准大气B)的要求,在23℃的 室温下和相对湿度50%条件下至少处理4d。 5.3.3 试验步骤 测试按照如下步骤进行: a) 将试样紧密安装在电极垫板之间,但不宜过紧,以避免试样在加热时变形; b) 测量之前,试样应在试验环境下放置至少24h,使试样处于介稳状态; c) 将试样温度从室温增加到所需试验温度,然后从一个试验温度逐步增加到下一个试验温度,试 验温度不少于5个,以准确获得所规定温度范围内温度与电阻之间的关系; d) 当垫板温度符合GB/T 10580-2015表2中规定的试验温度范围内时,对试样施加材料规范 规定的电压1min(或其他规定时间),测量体积电阻,读取体积电阻读数Rx; e) 测量完成,移除电压,并将高压电极、测量电极和保护电极相互连接(短路)。 5.3.4 数据处理 数据处理步骤如下。 a) 被测试样的体积电阻率根据公式(3)计算: ρ=Rx×A/h (3) 式中: ρ ---体积电阻率,单位为欧姆米(Ω·m); Rx---体积电阻,单位为欧姆(Ω); A ---测量电极的有效面积,单位为平方米(m2); h ---试样的平均厚度,单位为米(m)。 b) 取试样测量数据的平均值作为结果,数值保留两位小数。 5.4 介电常数 5.4.1 试验装置 应符合GB/T 31838.6-2021中4.3的规定。 5.4.2 试样要求 试样具体要求如下。 a) 试样应为没有结石、气泡和条纹等缺陷的基板玻璃,长宽尺寸应为50mm×50mm,试样数量 至少为3个。 b) 在加装电极前,至少在5个不同的点上测量试样的厚度,并计算平均厚度h。在试样表面两侧 相对居中位置制备直径为30mm~38mm的金属电极,优选铂金,如使用银或铜,应确保在测 试温度下金属不会迁移至试样内部氧化。试样厚度和电极尺寸的精确度要求为±1%。 c) 试样的条件处理和预处理应按照GB/T 10580-2015中表2(标准大气B)的要求,在23℃的 室温下和相对湿度50%条件下至少处理4d。 5.4.3 试验步骤 按照GB/T 31838.6-2021中4.3.2的电桥法或阻抗分析仪法进行测试,测试频率为1kHz。 5.4.4 数据处理 数据处理步骤如下。 a) 被测试样的介电常数根据公式(4)计算: ε=ε0×εr (4) 其中εr根据公式(5)计算: εr= Cx C0 (5) 其中C0 根据公式(6)计算: C0=ε0× (6) 式中: ε ---介电常数,单位为法拉每米(F/m); ε0 ---真空介电常数,ε0=8.854×10-12F/m; εr ---相对介电常数; Cx---电容性试样加入到电极间所测得的电容; C0---真空中电容器的电极电容; A ---测量电极的有效面积,单位为平方米(m2); h ---试样的平均厚度,单位为米(m)。 b) 取试样测量数据的平均值作为结果,数值保留两位小数。 5.5 介质损耗因数 5.5.1 试验装置 试验装置应符合GB/T 31838.6-2021中4.3的规定。 5.5.2 试样要求 试样具体要求如下: a) 试样应为没有结石、气泡和条纹等缺陷的基板玻璃,长宽尺寸应为50mm×50mm,试样数量 至少为3个。 b) 在加装电极前,至少在5个不同的点上测量试样的厚度,并计算平均厚度h。在试样表面两侧 相对居中位置制备直径为30mm~38m......

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