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www.GB-GBT.com 收录标准: 222397 (2026-05-14)

GB/T 4937.41-2026 相关标准英文版PDF

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GB/T 4937.41-2026 英文版 374 GB/T 4937.41-2026 [PDF]天数 <=4 半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分:非易失性存储器可靠性试验方法 GB/T 4937.41-2026 有效
基本信息
标准编号 GB/T 4937.41-2026 (GB/T4937.41-2026)
中文名称 半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分:非易失性存储器可靠性试验方法
英文名称 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Test method for reliability of non-volatile memory devices
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 L40
国际标准分类 31.080.01
字数估计 18,114
发布日期 2026-02-27
实施日期 2026-09-01
发布机构 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

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英文网页English: GB/T 4937.41-2026

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