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GB/T 5095.2504-2021 相关标准英文版PDF

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GB/T 5095.2504-2021 英文版 264 GB/T 5095.2504-2021 [PDF]天数 <=3 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延 GB/T 5095.2504-2021 有效
基本信息
标准编号 GB/T 5095.2504-2021 (GB/T5095.2504-2021)
中文名称
英文名称 Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 25-4: Test 25d: Propagation delay
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 L23
字数估计 14,130
发布机构 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

GB/T 5095.2504-2021 Electromechanical components for electronic equipment -- Basic testing procedures and measuring methods -- Part 25-4: Test 25d: Propagation delay ICS 31.220.10 L23 中华人民共和国国家标准 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分:试验25d:传输时延 2021-03-09发布 2021-10-01实施 国 家 市 场 监 督 管 理 总 局 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布 目次 前言 Ⅲ 1 总则 1 1.1 范围和目的 1 1.2 术语和定义 1 2 试验设施 1 2.1 设备 1 2.2 装置 1 3 试验样品 2 3.1 说明 2 4 试验程序 3 4.1 探头法 3 4.2 插入法 3 4.3 标准装置法 3 5 相关标准应规定的细则 3 6 试验记录文件 4 附录A(规范性附录) 装置和设备示意图 6 附录B(资料性附录) 实用指南 9 前言 GB/T 5095《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。 GB/T 5095的第25部分为信号完整性试验,已经发布或计划发布的部分如下: ---第25-1部分:试验25a:串扰比; ---第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗); ---第25-3部分:试验25c:上升时间衰减; ---第25-4部分:试验25d:传输时延; ---第25-5部分:试验25e:回波损耗; ---第25-6部分:试验25f:眼图和抖动; ---第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR); ---第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰。 本部分为GB/T 5095的第25-4部分。 本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。 本部分使用翻译法等同采用IEC 60512-25-4:2001《电子设备用连接器 试验和测量 第25-4部 分:试验25d:传输时延》。 本部分做了下列编辑性修改: ---标准名称由《电子设备用连接器 试验和测量 第25-4部分:试验25d:传输时延》修改为《电 子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分:试验25d:传输时延》。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC166)归口。 本部分起草单位:四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。 本部分主要起草人:庞斌、朱茗、肖淼、刘俊、汪其龙。 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分:试验25d:传输时延 1 总则 1.1 范围和目的 GB/T 5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。 本部分描述了测量数字信号从一个规定地点传送至第二个规定地点所需时间的方法。 1.2 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 1.2.1 安装就位无样品,并具有滤波(或归一化)作用的装置测量的上升时间。通常,测量的是10%~ 90%电平的上升时间(见图1)。 1.2.2 由装置在样品信号导线上引起的阻抗。该阻抗是由传输线路、终端电阻、附装的接收器或信号源以 及装置的寄生效应产生的。 1.2.3 传输时延 propagationdelay 信号在互连系统的两个规定地点之间传送所需的时间(见图2)。 2 试验设施 2.1 设备 2.1.1 脉冲发生器和示波器、时域反射计(TDR)或具有测量系统上升时间小于或等于测量传输时延的 其他合适设备。 2.1.2 探头 若采用探头时,探头应具有合适的上升时间性能和电路负载特性(电阻和电容)。 2.2 装置 除非参考文件中另有规定,样品环境阻抗应与试验设备的阻抗相匹配。通常,对于单端测量,该......