首页 购物车 询价
www.GB-GBT.com 收录标准: 222397 (2026-05-14)

GB/T 5095.2507-2021 相关标准英文版PDF

搜索结果: GB/T 5095.2507-2021, GB/T5095.2507-2021, GBT 5095.2507-2021, GBT5095.2507-2021
标准号码内文价格美元第2步(购买)交付天数标准名称详情状态
GB/T 5095.2507-2021 英文版 564 GB/T 5095.2507-2021 [PDF]天数 <=4 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR） GB/T 5095.2507-2021 有效
基本信息
标准编号 GB/T 5095.2507-2021 (GB/T5095.2507-2021)
中文名称
英文名称 Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 25-7: Test 25g: Impedance, reflection coefficient, and voltage standing wave ratio (VSWR)
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 L23
字数估计 30,342
发布机构 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

GB/T 5095.2507-2021 Electromechanical components for electronic equipment -- Basic testing procedures and measuring methods -- Part 25-7: Test 25g: Impedance, reflection coefficient, and voltage standing wave ratio (VSWR) ICS 31.220.10 L23 中华人民共和国国家标准 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分:试验25g: 阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR) Part25-7:Test25g: 2021-03-09发布 2021-10-01实施 国 家 市 场 监 督 管 理 总 局 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布 目次 前言 Ⅰ 1 范围和目的 1 2 术语和定义 1 3 试验设施 2 3.1 设备 2 3.2 装置 3 4 试验样品 4 4.1 说明 4 5 试验程序 4 5.1 时域 4 5.2 频域 5 6 相关标准应规定的细则 6 7 试验记录文件 6 附录A(规范性附录) 测量系统上升时间 8 附录B(资料性附录) 样品近端和远端的确定 11 附录C(资料性附录) 校准标准和试验板标准线路 12 附录D(资料性附录) TDR阻抗曲线图说明 15 附录E(资料性附录) 电气终端 17 附录F(资料性附录) 实用指南---可变上升时间 19 附录G(资料性附录) 电子测量用印制电路板的设计依据 20 附录H (资料性附录) 试验信号发射构件 24 前言 GB/T 5095《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。 GB/T 5095的第25部分为信号完整性试验,已经发布或计划发布的部分如下: ---第25-1部分:试验25a:串扰比; ---第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗); ---第25-3部分:试验25c:上升时间衰减; ---第25-4部分:试验25d:传输时延; ---第25-5部分:试验25e:回波损耗; ---第25-6部分:试验25f:眼图和抖动; ---第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR); ---第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰。 本部分为GB/T 5095的第25-7部分。 本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。 本部分使用翻译法等同采用IEC 60512-25-7:2004《电子设备用连接器 试验和测量 第25-7部 分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR)》。 本部分做了下列编辑性修改: ---标准名称由《电子设备用连接器 试验和测量 第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压 驻波比(VSWR)》修改为《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分:试 验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR)》。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC166)归口。 本部分起草单位:四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。 本部分主要起草人:庞斌、朱茗、肖淼、刘俊、汪其龙。 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分:试验25g: 阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR) 1 范围和目的 GB/T 5095的本部分适用于互连组件,如IEC TC48范围内的电连接器和电缆组件。 本部分描述了在时域和频域内测量阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR)的试验方法。 注:这些测试方法是为专业试验人员编写的,这些试验人员具备电子领域的专业知识并经过使用测试设备的培训。 由于测量值受装置和设备的强烈影响,该方法未能叙述所有可能的复合作用。主要设备制造厂提供的应用说 明书,对如何最恰当的使用其设备作了更深入的专业说明。至关重要的是相关标准中宜包括让试验人员了解 如何安排和进行所要求测量的说明和简图。 2 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 2.1 安装就位无样品,并具有滤波(或归一化)作用的装置测量的上升时间。通常,测量的是10%~ 90%电平的上升时间。 2.2 由装置在样品信号导线上引起的阻抗。该阻抗是由传输线路、终端电阻、附装的接收器和信号源以 及装置的寄生效应产生的。 2.3 在任一给定点的反射电压与入射电压之比。反射系数由式(1)给出: Γ= Vreflected Vincident= ZL+Z......