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GB/T 5095.2509-2020 相关标准英文版PDF

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GB/T 5095.2509-2020 英文版 339 GB/T 5095.2509-2020 [PDF]天数 <=4 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分：信号完整性试验 试验25i：外来串扰 GB/T 5095.2509-2020 有效
基本信息
标准编号 GB/T 5095.2509-2020 (GB/T5095.2509-2020)
中文名称 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分：信号完整性试验 试验25i：外来串扰
英文名称 Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 25-9: Signal integrity tests - Test 25i: Alien crosstalk
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 L23
国际标准分类 31.220.10
字数估计 18,17
发布日期 2020-04-28
实施日期 2020-11-01
发布机构 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

GB/T 5095.2509-2020 Electromechanical components for electronic equipment--Basic testing procedures and measuring methods--Part 25-9: Signal integrity tests--Test 25i: Alien crosstalk ICS 31.220.10 L23 中华人民共和国国家标准 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰 2020-04-28发布 2020-11-01实施 国 家 市 场 监 督 管 理 总 局 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布 目次 前言 Ⅲ 1 范围和目的 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 概述 2 4.1 程序 2 4.2 试验条件 3 5 总体试验配置 3 5.1 总则 3 5.2 终端 4 5.3 试验连接器线对 4 6 自一个连接器至另一连接器的外来串扰试验程序 5 6.1 校准 5 6.2 测量(噪声)最低标准 6 6.3 外来串扰测量 6 7 外来串扰显著性确定程序 7 8 相关详细规范应规定的细则 7 9 功率和计算、报告和试验记录文件 7 附录A(资料性附录) 获取外来串扰性能数据的流程图 8 附录B(资料性附录) 外来串扰试验采用的同轴开关实例 9 参考文献 13 前言 GB/T 5095《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。 GB/T 5095的第25部分为信号完整性试验,已经发布或计划发布的部分如下: ---第25-1部分:试验25a:串扰比; ---第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗); ---第25-3部分:试验25c:上升时间衰减; ---第25-4部分:试验25d:传输时延; ---第25-5部分:试验25e:回波损耗; ---第25-6部分:试验25f:眼图和抖动; ---第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR); ---第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰。 本部分为GB/T 5095的第25-9部分。 本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。 本部分使用翻译法等同采用IEC 60512-25-9:2008《电子设备用连接器 试验和测量 第25-9部 分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰》。 与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下: ---GB/T 4210-2015 电工术语 电子设备用机电元件[IEC 60050-581:2008,IDT]; ---GB/T 18015(所有部分) 数字通信用对绞或星绞多芯对称电缆[IEC 61156(所有部分)]; ---GB/T 15157.7-2002 频率低于3MHz的印制板连接器 第7部分:有质量评定的具有通 用插合特性的8位固定和自由连接器详细规范[IEC 60603-7:1996,IDT]。 本部分做了下列编辑性修改: ---标准名称由《电子设备用连接器 试验和测量 第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外 来串扰》修改为《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分:信号完整性 试验 试验25i:外来串扰》。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC166)归口。 本部分起草单位:四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。 本部分主要起草人:庞斌、朱茗、肖淼、刘俊、汪其龙。 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰 1 范围和目的 GB/T 5095的本部分规定的试验方法是用于评定安装在其安装系统内紧靠着的连接器之间的近 端外来串扰(ANEXT)和远端外来串扰(AFEXT)。组合式连接器和多端口面板连接器均可采用本方 法进行试验。本方法提供了试验任何两端口之间外来(外源的)串扰的方式,以及评定来自所有其他端 口的全部外来串扰。本试验规程广泛地适用于机电元件中所有电连接器,尤其适用于IEC 60603-7系 列和IEC 61076-3-104中所叙述的连接器,以及用于数据传输的其他类型连接器。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 IEC 60512-26-100 电子设备用连接器 试验和测量 第26-100部分:符合IEC 60603-7连接器 IEC 60603-7-4:2005 电子设备用连接......