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JB/T 7786-1995 相关标准英文版PDF

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JB/T 7786-1995 英文版 349 JB/T 7786-1995 [PDF]天数 <=3 电力半导体器件检验抽样方法 JB/T 7786-1995
基本信息
标准编号 JB/T 7786-1995 (JB/T7786-1995)
中文名称 电力半导体器件检验抽样方法
英文名称 Sampling method for test of power semiconductor devices
行业 机械行业标准 (推荐)
中标分类 K46
字数估计 10,173
发布日期 1995-10-09
实施日期 1996-01-01
引用标准 GB 2828; GB 2829; GB 4589.1
采用标准 IEC 410, NEQ; IEC 747-10, NEQ; JIS C7210, NEQ
范围 本标准规定了计数型一次抽样方案、追加抽样方案及抽样程序。本标准适用于电力半导体器件(包括模块、组件和附件)的出厂(或逐批)检验、型式(或周期)试验和交收检验。

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英文网页English: JB/T 7786-1995

相关标准: GB/T 31487.3 | JB/T 7626 | JB/T 4193 | JB/T 7624 |