搜索结果: JJF 1254-2010, JJF1254-2010
| 标准编号 | JJF 1254-2010 (JJF1254-2010) | | 中文名称 | 数显测高仪校准规范 | | 英文名称 | Calibration specification for height measuring instrument with digital display | | 行业 | 计量行业标准 | | 中标分类 | A52 | | 国际标准分类 | 17.040 | | 字数估计 | 13,195 | | 发布日期 | 2010-05-11 | | 实施日期 | 2010-11-11 | | 旧标准 (被替代) | JJG 929-1998 | | 引用标准 | JJF 1001-1998; JJF 1094-2002; JJF 1130-2005; GB/T 22094-2008 | | 标准依据 | 国家质检总局公告2010年第50号 | | 发布机构 | 国家质量监督检验检疫总局 | | 范围 | 本规范适用于分辨力0.1μm、0.2μm、0.5μm和1μm, 量程0㎜至1000㎜的数显测高仪的校准。 | JJF 1254-2010
Calibration specification for height measuring instrument with digital display
中华人民共和国国家计量技术规范
数 显 测 高 仪 校 准 规 范
2010-05-11发布
2010-11-11实施
国 家 质 量 监 督 检 验 检 疫 总 局 发 布
数 显 测 高 仪 校 准 规 范
代替JJG929-1998
本规范经国家质量监督检验检疫总局于2010年5月11日批准,并自
2010年11月11日起施行。
归 口 单 位:全国几何量工程参量计量技术委员会
主要起草单位:中国科学院光电技术研究所
参加起草单位:中国测试技术研究院
本规范由全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释
本规范主要起草人:
匡 龙 (中国科学院光电技术研究所)
耿丽红 (中国科学院光电技术研究所)
曹学东 (中国科学院光电技术研究所)
参加起草人:
冉 庆 (中国测试技术研究院)
目 录
1 范围 (1)
2 引用文献 (1)
3 概述 (1)
4 计量特性 (2)
4.1 测量力 (2)
4.2 垂直度 (2)
4.3 示值变动性 (2)
4.4 示值误差 (2)
5 校准条件 (2)
5.1 环境条件 (2)
5.2 测量标准器及其他设备 (3)
6 校准项目和校准方法 (3)
6.1 测量力 (3)
6.2 垂直度 (3)
6.3 示值变动性 (4)
6.4 示值误差 (4)
7 校准结果表达 (4)
8 复校时间间隔 (4)
附录A 数显测高仪示值误差测量结果不确定度评定 (5)
附录B 校准证书内容 (8)
数 显 测 高 仪 校 准 规 范
1 范围
本规范适用于分辨力为0.1μm、0.2μm、0.5μm和1μm,量程0mm至1000mm
的数显测高仪的校准。
2 引用文献
本规范引用下列文献:
JJF1001-1998 通用计量术语及定义
JJF1094-2002 测量仪器特性评定
JJF1130-2005 几何量测量设备校准中的不确定度评定指南
GB/T 22094-2008 电子数显测高仪
使用本规范时,应注意使用上述引用文献的现行有效版本。
3 概述
数显测高仪是基于精密机械、现代传感技术和电子技术的立式单坐标数字化几何量
测量仪器,用......
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