搜索结果: JJF 1933-2021, JJF1933-2021
| 标准编号 | JJF 1933-2021 (JJF1933-2021) | | 中文名称 | 光学轴类测量仪校准规范 | | 英文名称 | Calibration Specification for Optical Shaft Measuring Instrument | | 行业 | 计量行业标准 | | 中标分类 | A52 | | 国际标准分类 | 17.040 | | 字数估计 | 23,254 | | 发布日期 | 2021-12-08 | | 实施日期 | 2022-06-08 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局 | | 范围 | 本规范适用于轴径测量上限至150 mm、轴长测量上限至1000 mm的光学轴类测量仪的校准。 | JJF 1933-2021: 光学轴类测量仪校准规范
中华人民共和国国家计量技术规范
光学轴类测量仪校准规范
2021-12-08发布
2022-06-08实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局 发 布
光学轴类测量仪校准规范
归 口 单 位:全国几何量工程参量计量技术委员会
主要起草单位:上海市计量测试技术研究院
黑龙江省计量检定测试院
参加起草单位:南京市计量监督检测院
马尔测量技术有限公司
海克斯康测量技术 (青岛)有限责任公司
本规范委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释
本规范主要起草人:
姜志华 (上海市计量测试技术研究院)
曾燕华 (上海市计量测试技术研究院)
刘文滨 (黑龙江省计量检定测试院)
唐冬梅 (上海市计量测试技术研究院)
参加起草人:
王 珉 (南京市计量监督检测院)
施佳强 (马尔测量技术有限公司)
谷 进 [海克斯康测量技术 (青岛)有限责任公司]
目 录
引言 (Ⅱ)
1 范围 (1)
2 引用文件 (1)
3 概述 (1)
4 计量特性 (1)
4.1 回转主轴顶尖的斜向圆跳动 (1)
4.2 上顶尖轴线与回转主轴的同轴度 (2)
4.3 垂直导轨移动与两顶尖连线之间的平行度 (2)
4.4 轴径测量的示值误差 (2)
4.5 轴长测量的示值误差 (2)
4.6 轴径测量的重复性 (2)
4.7 轴长测量的重复性 (2)
5 校准条件 (2)
5.1 环境条件 (2)
5.2 校准项目和校准用标准器及其他设备 (2)
6 校准项目和校准方法 (3)
6.1 回转主轴顶尖的斜向圆跳动 (3)
6.2 上顶尖轴线与回转主轴的同轴度 (3)
6.3 垂直导轨移动与两顶尖连线之间的平行度 (4)
6.4 轴径测量的示值误差 (5)
6.5 轴长测量的示值误差 (5)
6.6 轴径测量的重复性 (5)
6.7 轴长测量的重复性 (5)
7 校准结果表达 (6)
8 复校时间间隔 (6)
附录A 轴径测量示值误差的不确定度评定示例 (7)
附录B 轴长测量示值误差的不确定度评定示例 (10)
附录C 标准轴径规 (13)
附录D 标准轴长规 (14)
附录E 阶梯型标准轴规 (15)
附录F 校准证书内容及内页格式 (16)
引 言
JJF1071-2010 《国家计量校准规范编写规则》、JJF1001-2011 《通用计量术语及
定义》、JJF1059.1-2012 《测量不确定度评定与表示》共同构成支撑本规范制定的基
础性系列规范。
本规范为首次发布。
光学轴类测量仪校准规范
1 范围
本规范适用于轴径测量上限至150mm、轴长测量上限至1000mm的光学轴类测
量仪的校准。
2 引用文件
本规范引用了下列文件:
JJF1094-2002 测量仪器特性评定
凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范;凡是不注日期的引用文
件,其最新版本 (包括所有的修改单)适用于本规范。
3 概述
光学轴类测量仪是采用CCD和光栅测量系统进行轴径和轴长测量的仪器。一般包
括回转主轴 (C 轴)和垂直轴 (Z 轴),主要由机械主体、照明系统、CCD测量系统、
控制系统和数据处理系统组成。
图1 光学轴类测量仪结构及测量原理示意图
1-回转主轴 (C 轴);2-下顶尖;3-照明光源;4-上顶尖;5-垂直运动导轨;
6-立柱;7-CCD测量系统;8-测量滑架 (含Z 轴)0;9-基座
常见光学轴类测量仪结构及测量原理示意图如图1所示。工作时,测量工件夹持在
两顶尖之间,CCD测量系统和照明光源通过测量滑架带动,沿Z 轴方向移动至测量位
置,测量图像通过CCD采集......
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