搜索结果: SJH 20954-2006, SJH20954-2006
| 标准编号 | SJ 20954-2006 (SJ20954-2006) | | 中文名称 | 集成电路锁定试验 | | 英文名称 | Integrated circuits latch-up test | | 行业 | 电子行业标准 | | 中标分类 | L55 | | 国际标准分类 | 31.200 | | 字数估计 | 15,181 | | 发布日期 | 2006-08-07 | | 实施日期 | 2006-12-30 | | 引用标准 | GB/T 17574 | | 发布机构 | 工业和信息化部 | | 范围 | 本标准规定了集成电路(IC)的电流锁定和过压锁定的试验方法。本标准的目的是建立测试IC锁定试验的方法, 用来判断集成电路锁定特性并确定锁定的失效判据。锁定敏感性对于决定产品可靠性、最小无故障率(NTF)和过电应力失效(EOS)非常重要。本试验方法适用于NMOS、CMOS、双极以及各种使用此类工艺的产品。当器件被置于该试验方法出现锁定时, 表明器件电性能失效, 与器件特殊结构无关。 | ......
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