SJH 21343-2018 相关标准英文版PDF

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标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	详情	状态
SJ 21343-2018	英文版	199	SJ 21343-2018	[PDF]天数 <=3	微波元器件低温环境下S参数测试方法	SJ 21343-2018	有效

基本信息
标准编号	SJ 21343-2018 (SJ21343-2018)
中文名称	微波元器件低温环境下S参数测试方法
英文名称	(S-parameter test method for microwave components in low temperature environment)
行业	电子行业标准
中标分类	L10
字数估计	8,842
发布机构	工业和信息化部

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