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SJH 21632-2021 相关标准英文版PDF

搜索结果: SJH 21632-2021, SJH21632-2021
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SJ 21632-2021 英文版 309 SJ 21632-2021 [PDF]天数 <=3 半导体微波器件耐氢能力试验方法 SJ 21632-2021 有效
基本信息
标准编号 SJ 21632-2021 (SJ21632-2021)
中文名称 半导体微波器件耐氢能力试验方法
英文名称 (Test method for hydrogen resistance of semiconductor microwave devices)
行业 电子行业标准
中标分类 L10
国际标准分类 31.020
字数估计 14,150
发布日期 2021-12-27
实施日期 2022-03-01
发布机构 工业和信息化部

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英文网页English: SJH 21632-2021

相关标准: GB/T 26572 | SJ/T 12004 | SJ/T 11919 | SJ 21633 |