搜索结果: SJH 21632-2021, SJH21632-2021
| 标准编号 | SJ 21632-2021 (SJ21632-2021) | | 中文名称 | 半导体微波器件耐氢能力试验方法 | | 英文名称 | (Test method for hydrogen resistance of semiconductor microwave devices) | | 行业 | 电子行业标准 | | 中标分类 | L10 | | 国际标准分类 | 31.020 | | 字数估计 | 14,150 | | 发布日期 | 2021-12-27 | | 实施日期 | 2022-03-01 | | 发布机构 | 工业和信息化部 |
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