SJH 21633-2021 相关标准英文版PDF

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标准号码	内文	价格美元	第2步(购买)	交付天数	标准名称	详情	状态
SJ 21633-2021	英文版	199	SJ 21633-2021	[PDF]天数 <=3	碳化硅外延材料少子寿命的激光微波光电导衰减测试方法	SJ 21633-2021	有效

基本信息
标准编号	SJ 21633-2021 (SJ21633-2021)
中文名称	碳化硅外延材料少子寿命的激光微波光电导衰减测试方法
英文名称	(Laser Microwave Photoconductive Decay Test Method for Minority Carrier Lifetime of SiC Epitaxial Materials)
行业	电子行业标准
中标分类	L10
国际标准分类	31.030
字数估计	9,930
发布日期	2021-12-27
实施日期	2022-03-01
发布机构	工业和信息化部

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