SJ/T 11210-1999 相关标准英文版PDF

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SJ/T 11210-1999	英文版	529	SJ/T 11210-1999	[PDF]天数 <=3	石英晶体元件参数的测量.第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算	SJ/T 11210-1999

基本信息
标准编号	SJ/T 11210-1999 (SJ/T11210-1999)
中文名称	石英晶体元件参数的测量.第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算
英文名称	Measurement of quartz crystal unit parameters. Part 4: Method for the measurement of the load resonance frequency fL, load resonance resistance Rland the calculation of other derived values of quartz crystal units, up to 30 MHz
行业	电子行业标准 (推荐)
中标分类	L71
字数估计	15,158
发布日期	8/26/1999
实施日期	12/1/1999
采用标准	IEC 444-4-1998, IDT
范围	本标准规定了频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率f(L)和负载谐振电阻R(L)的简单测量方法。从这两项测量可计算出由IEC 122-1修改1中定义的负载谐振频率偏置△f(L), 频率牵引范围△f(L1L2)和牵引灵敏度S。本方法采用的是测量串联谐振频率f(L)和当与晶体元件串联一个负载电容C(L)时产生的f(L)的变化(即△f(L))。测量准确度主要由频率测量的准确度和负载电容校准的准确度决定。

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