SJ/T 11212-1999 相关标准英文版PDF

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SJ/T 11212-1999	英文版	559	SJ/T 11212-1999	[PDF]天数 <=3	石英晶体元件参数的测量第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量	SJ/T 11212-1999

基本信息
标准编号	SJ/T 11212-1999 (SJ/T11212-1999)
中文名称	石英晶体元件参数的测量第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量
英文名称	Measurement of quartz crystal unit parameters. Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
行业	电子行业标准 (推荐)
中标分类	L21
字数估计	16,111
发布日期	8/26/1999
实施日期	12/1/1999
引用标准	SJ/Z 9154; SJ/Z 9154.1-1987
采用标准	IEC 444-6-1995, IDT
范围	本标准适用于石英晶体元件激励电平相关性(DlD)的测量。本标准规定两种试验方法。方法A, 以SJ/Z 9154.1-87的π型网络为基础, 适用于该标准所覆盖的整个频率范围。方法B, 是振荡器法, 适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。

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