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SJ/T 11820-2022 相关标准英文版PDF

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SJ/T 11820-2022 英文版 249 SJ/T 11820-2022 [PDF]天数 <=3 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法 SJ/T 11820-2022 有效
基本信息
标准编号 SJ/T 11820-2022 (SJ/T11820-2022)
中文名称 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法
英文名称 (Technical requirements and measurement methods for DC parameter test equipment of semiconductor discrete devices)
行业 电子行业标准 (推荐)
字数估计 10,139
发布日期 2022-09-30
实施日期 2023-01-01
发布机构 工业和信息化部
范围 本文件规定了半导体分立器件直流参数测试设备的术语和定义、技术要求、测量方法。适用于直流电压输出和直流电压测量范围不超过 0.01V~5000V,直流电流输出和直流电流测量范围不超过1nA~10A,脉冲电流输出和脉冲电流测量范围不超过 10A~1200A 的分立器件测试设备。

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英文网页English: SJ/T 11820-2022

相关标准: SJ/T 1175 |