搜索结果: SJ/T 2658.4-2015, SJ/T2658.4-2015, SJT 2658.4-2015, SJT2658.4-2015
| 标准编号 | SJ/T 2658.4-2015 (SJ/T2658.4-2015) | | 中文名称 | 半导体红外发射二极管测量方法 第4部分：总电容 | | 英文名称 | Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode. Part 4: Total capacitance | | 行业 | 电子行业标准 (推荐) | | 中标分类 | L53 | | 国际标准分类 | 31.08 | | 字数估计 | 4,422 | | 发布日期 | 2015-10-10 | | 实施日期 | 2016-04-01 | | 旧标准 (被替代) | SJ 2658.4-1986 | | 引用标准 | SJ/T 2658.1 | | 标准依据 | 中华人民共和国工业和信息化部公告 2015年 第63号;行业标准备案公告2015年第12号(总第192号) | | 发布机构 | 工业和信息化部 | | 范围 | 本部分规定了半导体红外发射二极管(以下简称器件)总电容的测量原理图、测量步骤以及规定条件。本部分适用于半导体红外发射二极管。 | ......
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