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SJ/T 2658.10-2015 相关标准英文版PDF

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SJ/T 2658.10-2015 英文版 149 SJ/T 2658.10-2015 [PDF]天数 <=3 半导体红外发射二极管测量方法 第10部分:调制带宽 SJ/T 2658.10-2015 有效
SJ 2658.10-1986 英文版 199 SJ 2658.10-1986 [PDF]天数 <=3 半导体红外发光二极管测试方法.调制宽带的测试方法 SJ 2658.10-1986 作废
基本信息
标准编号 SJ/T 2658.10-2015 (SJ/T2658.10-2015)
中文名称 半导体红外发射二极管测量方法 第10部分:调制带宽
英文名称 Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode. Part 10: Modulation bandwidth
行业 电子行业标准 (推荐)
中标分类 L53
国际标准分类 31.08
字数估计 5,546
发布日期 2015-10-10
实施日期 2016-04-01
旧标准 (被替代) SJ 2658.10-1986
引用标准 GB/T 2900.65-2004; SJ/T 2658.1
标准依据 中华人民共和国工业和信息化部公告 2015年 第63号;行业标准备案公告2015年第12号(总第192号)
发布机构 工业和信息化部
范围 本部分规定了半导体红外发射二极管调制带宽的测量原理图、测量步骤以及规定条件。本部分适用于半导体红外发射二极管。

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英文网页English: SJ/T 2658.10-2015

相关标准: SAMR 75 | SJ/T 2658.15 | SJ/T 2658.16 | SJ/T 2658.14 |