YS/T 1600-2023 相关标准英文版PDF

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YS/T 1600-2023	英文版	239	YS/T 1600-2023	[PDF]天数 <=3	碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定辉光放电质谱法	YS/T 1600-2023	有效

基本信息
标准编号	YS/T 1600-2023 (YS/T1600-2023)
中文名称	碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定辉光放电质谱法
英文名称	(Determination of Trace Impurity Element Content in Silicon Carbide Single Crystals by Glow Discharge Mass Spectrometry)
行业	有色冶金行业标准 (推荐)
中标分类	H17
国际标准分类	77.040.30
字数估计	11,181
发布日期	2023-04-21
实施日期	2023-11-01
发布机构	工业和信息化部
范围	本文件规定了碳化硅单晶中杂质元素含量的辉光放电质谱测定方法。本文件适用于碳化硅单晶中杂质元素含量的测定。

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