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YS/T 1755-2025 相关标准英文版PDF

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YS/T 1755-2025 英文版 RFQ 询价 [PDF]天数 <=3 颗粒硅总金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 YS/T 1755-2025 有效
基本信息
标准编号 YS/T 1755-2025 (YS/T1755-2025)
中文名称 颗粒硅总金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
英文名称 Determination of Total Metal Content and Impurities in Polycrystalline Silicon - Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry
行业 有色冶金行业标准 (推荐)
中标分类 H17
国际标准分类 77.04
发布日期 2025-04-10
实施日期 2025-11-01
发布机构 工业和信息化部
范围 本文件描述了电感耦合等离子体质谱仪测定流化床法颗粒硅中总金属含量的方法本文件适用于流化床法颗粒硅总金属,如铁、铬、镍、铜、钠、镁、铝、钾、钙、锌、钛、钼、钨、钴含量的测定,各元素检测范围为0.05ng/g~50ng/g

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英文网页English: YS/T 1755-2025

相关标准: GB/T 14849.3 | YS/T 1754 | YS/T 1740 | YS/T 1747 |