YS/T 1768-2025 相关标准英文版PDF

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YS/T 1768-2025	英文版	RFQ	询价	[PDF]天数 <=3	硅多晶生产用石墨制品表面杂质含量的测定电感耦合等离子体光谱法	YS/T 1768-2025	有效

基本信息
标准编号	YS/T 1768-2025 (YS/T1768-2025)
中文名称	硅多晶生产用石墨制品表面杂质含量的测定电感耦合等离子体光谱法
英文名称	Determination of Impurities in the Surface of Graphite Products Used in Polysilicon Production - Inductively-Coupled Plasma Spectrometric Method
行业	有色冶金行业标准 (推荐)
中标分类	H17
国际标准分类	77.04
发布日期	2025-04-10
实施日期	2025-11-01
发布机构	工业和信息化部
范围	本文件描述了硅多晶生产用石墨制品表面中钠、镁、铝、钾、钙、铬、铁、镍、铜、锌、砷、铅、锰、硼、磷等元素含量的电感耦合等离子体光谱测定方法本文件适用于硅多晶生产用石墨制品中表面杂质元素含量的测定

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