[PDF] GB 6623-1986 - 中国标准 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB 6623-1986 | 199 | GB 6623-1986 | <=2 | 硅抛光片表面热氧化层错的测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB 6623-1986 (GB6623-1986) |
| 中文名称 | 硅抛光片表面热氧化层错的测试方法 |
| 英文名称 | Standard method for measuring the surface O. S. F of polished silicon wafers |
| 行业 | 国家标准 |
| 中标分类 | H26 |
| 字数估计 | 4,469 |
| 发布日期 | 7/26/1986 |
| 实施日期 | 7/1/1987 |
| 采用标准 | ASTM F416-1981, NEQ |
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