路径: 主页 > GB/T > 第448页 > GB/T 14849.5-2010 | 标准编号 | GB/T 14849.5-2010 (GB/T14849.5-2010) | | 中文名称 | 工业硅化学分析方法 第5部分：元素含量的测定 X射线荧光光谱法 | | 英文名称 | Chemical analysis of silicon metal -- Part 5: Determination of elements content -- Analysis using an X-ray fluorescence method | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | H12 | | 国际标准分类 | 77.120.10 | | 字数估计 | 6,684 | | 发布日期 | 1/14/2011 | | 实施日期 | 11/1/2011 | | 标准依据 | 国家标准批准发布公告2011年第2号;国家标准批准发布公告2014年第27号 | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | 本标准规定了工业硅中Fe, A1, Ca含量的测定方法。 | GB/T 14849.5-2010
Chemical analysis of slion metal.Part 5: Determination of elements content.Analysis using an X-ray fluorescence method
ICS 77.120.10
H12
中华人民共和国国家标准
工业硅化学分析方法
第5部分:元素含量的测定
X射线荧光光谱法
2011-01-14发布
2011-11-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
前言
GB/T 14849-2010《工业硅化学分析方法》分为五个部分:
---第1部分:铁含量的测定;
---第2部分:铝含量的测定;
---第3部分:钙含量的测定;
---第4部分:ICP-AES测定元素含量;
---第5部分:元素含量的测定 X射线荧光光谱法。
本部分为GB/T 14849的第5部分。
本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本标准由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)归口。
本标准负责起草单位:中国铝业股份有限公司山东分公司。
本标准参加起草单位:山东南山铝业股份有限公司、中国铝业股份有限公司连城分公司。
本标准主要起草人:尚爱平、郑全丽、宗丽华、王玉琴、王振才、臧凤美、刘杨军、陈泓钧、邵静。
工业硅化学分析方法
第5部分:元素含量的测定
X射线荧光光谱法
1 范围
本标准规定了工业硅中Fe、Al、Ca含量的测定方法。
本方法适用于工业硅中Fe、Al、Ca含量的测定,测定范围见表1。
表1
元 素 质量分数/%
Fe 0.050~1.500
Al 0.050~1.000
Ca 0.010~1.000
2 方法原理
X射线荧光光谱法是通过化学元素二次激发所发射的X射线谱线的波长和强度测量来进行定性
和定量分析。由光管发生的初级X射线束照射在试样上,试样内各化学元素被激发出各自的二次特征
辐射,这种二次射线通过准直器到达分光晶体。只有满足衍射条件的某个特定波长的辐射在出射晶体
时得到加强,而其他波长的辐射被削弱。
该方法根据Bragg定理,即公式(1):
nλ=2d·sinθ (1)
式中:
n---衍射级数;
λ---入射光束(特征辐射)的波长,单位为纳米(nm);
d---晶体面间距,单位为厘米(cm);
θ---入射光与晶面间的夹角,单位为度(°)。
在定量分析时,首先测量系列标准样品的分析线强度,绘制强度对浓度的校准曲线,并进行必要的
基体效应的数学校正,然后根......
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