[PDF] SJ 21634-2021 - 中国标准 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| SJ 21634-2021 | 619 | SJ 21634-2021 | <=5 | 半导体集成电路 多节点低电压差分信号电路(M-LVDS)测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ 21634-2021 (SJ21634-2021) |
| 中文名称 | 半导体集成电路 多节点低电压差分信号电路(M-LVDS)测试方法 |
| 英文名称 | (Semiconductor integrated circuits - Multi-node low-voltage differential signaling (M-LVDS) test methods) |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | L56 |
| 国际标准分类 | 31.200 |
| 字数估计 | 28,283 |
| 发布日期 | 2021-12-27 |
| 实施日期 | 2022-03-01 |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
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