[PDF] SJ 2658.5-1986 - 中国标准 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| SJ 2658.5-1986 | 199 | SJ 2658.5-1986 | <=3 | 半导体红外发光二极管测试方法.正向串联电阻的测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ 2658.5-1986 (SJ2658.5-1986) |
| 中文名称 | 半导体红外发光二极管测试方法.正向串联电阻的测试方法 |
| 英文名称 | Methods of measurement for semiconductor infrared diodes Methods of measurement for forward series resistance |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | L53 |
| 字数估计 | 4,452 |
| 发布日期 | 1/21/1986 |
| 实施日期 | 10/1/1986 |
| 标准依据 | 行业标准备案公告2015年第12号(总第192号); 工科(2010)第77号 |
| 范围 | 本标准适用于红外发光二极管正向串联电阻的测试。 |
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