[PDF] SJ/T 11504-2015 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| SJ/T 11504-2015 | 189 | SJ/T 11504-2015 | <=3 | 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ/T 11504-2015 (SJ/T11504-2015) |
| 中文名称 | 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法 |
| 英文名称 | Test method for measuring surface quality of polished monocrystalline silicon carbide |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | H83 |
| 国际标准分类 | 29.045 |
| 字数估计 | 8,892 |
| 发布日期 | 2015-04-30 |
| 实施日期 | 2015-10-01 |
| 引用标准 | GB/T 14264; GB/T 25915.1-2010 |
| 标准依据 | 工业和信息化部公告2015年第28号;行业标准备案公告2015年第7号(总第187号) |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本标准规定了碳化硅单晶抛光片(以下简称"抛光片")表面质量的目视检验方法。本标准适用于单面或者双面抛光的碳化硅单晶抛光片表面质量的检测。 |
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