| 标准编号 | SJ/T 11500-2015 (SJ/T11500-2015) |
| 中文名称 | 碳化硅单晶晶向的测试方法 |
| 英文名称 | Test method for measuring crystallographic orientation of monocrystalline silicon carbide |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | H83 |
| 国际标准分类 | 29.046 |
| 字数估计 | 8,874 |
| 发布日期 | 2015-04-30 |
| 实施日期 | 2015-10-01 |
| 引用标准 | GB/T 14264 |
| 标准依据 | 工业和信息化部公告2015年第28号;行业标准备案公告2015年第7号(总第187号) |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本标准规定了利用X射线衍射定向法测定碳化硅单晶晶向的方法。本标准适用于晶型为6H和4H的碳化硅单晶的晶向测定。 |