路径: 主页 > GB > 第96页 > GB 6623-1986 | 标准编号 | GB 6623-1986 (GB6623-1986) | | 中文名称 | 硅抛光片表面热氧化层错的测试方法 | | 英文名称 | Standard method for measuring the surface O. S. F of polished silicon wafers | | 行业 | 国家标准 | | 中标分类 | H26 | | 字数估计 | 4,469 | | 发布日期 | 7/26/1986 | | 实施日期 | 7/1/1987 | | 采用标准 | ASTM F416-1981, NEQ | ......
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