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| 标准编号 | SJ 2594-1985 (SJ2594-1985) | | 中文名称 | 高纯四氯化硅中硼及金属杂质的化学光谱分析方法 | | 英文名称 | Method for the analysis of boron and metalic impurities in pure SiC14-Spectro-chemical method | | 行业 | 电子行业标准 | | 中标分类 | H17 | | 字数估计 | 6,643 | | 发布日期 | 7/31/1985 | | 实施日期 | 1/1/1986 | | 范围 | 本标准方法适用于测定高纯四氯化硅中硼及金属杂质含量。 |
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