路径: 主页 > SJ > 第82页 > SJ 2595-1985 | 标准编号 | SJ 2595-1985 (SJ2595-1985) | | 中文名称 | 高纯四氯化硅中痕量磷的分光光度比色测试方法 | | 英文名称 | Method for the analysis of trace phosphorous in pure SiC14--Method spectrophotometry | | 行业 | 电子行业标准 | | 中标分类 | H17 | | 字数估计 | 6,686 | | 发布日期 | 7/31/1985 | | 实施日期 | 1/1/1986 | | 范围 | 本方法适用于生长半导体器件及电路用硅外延片、多晶硅和光通讯器件用光纤予制件的高纯四氯化硅中磷含量的测试方法。 | ......
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