| 标准编号 | SJ/T 11630-2016 (SJ/T11630-2016) |
| 中文名称 | 太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法 |
| 英文名称 | (Solar-wafer geometry test method) |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | H21 |
| 字数估计 | 8,841 |
| 发布日期 | 2016-04-05 |
| 实施日期 | 2016-09-01 |
| 标准依据 | The Ministry of Industry and Notice No. 2016 in 2016; industry standard record announcement 2016 No. 7 (total 199) |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本标准规定了太阳能电池用硅片几何尺寸的测试方法，几何尺寸参数包括边长、对角线、邻边垂直度、倒角宽度和倒角角度。主要内容包括规范性引用文件、术语和定义、方法原理、干扰因素、仪器设备、试样要求、测试环境、测试程序、精密度和试验报告等。 |