搜索结果: SJ/T 11630-2016, SJ/T11630-2016, SJT 11630-2016, SJT11630-2016
| 标准编号 | SJ/T 11630-2016 (SJ/T11630-2016) | | 中文名称 | 太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法 | | 英文名称 | (Solar-wafer geometry test method) | | 行业 | 电子行业标准 (推荐) | | 中标分类 | H21 | | 字数估计 | 8,841 | | 发布日期 | 2016-04-05 | | 实施日期 | 2016-09-01 | | 标准依据 | The Ministry of Industry and Notice No. 2016 in 2016; industry standard record announcement 2016 No. 7 (total 199) | | 发布机构 | 工业和信息化部 | | 范围 | 本标准规定了太阳能电池用硅片几何尺寸的测试方法,几何尺寸参数包括边长、对角线、邻边垂直度、倒角宽度和倒角角度。主要内容包括规范性引用文件、术语和定义、方法原理、干扰因素、仪器设备、试样要求、测试环境、测试程序、精密度和试验报告等。 |
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