路径: 主页 > SJ/T > 第35页 > SJ/T 2749-2016 | 标准编号 | SJ/T 2749-2016 (SJ/T2749-2016) | | 中文名称 | 半导体激光二极管测试方法 | | 英文名称 | (The semiconductor laser diode test) | | 行业 | 电子行业标准 (推荐) | | 中标分类 | L53 | | 字数估计 | 34,367 | | 发布日期 | 2016-01-15 | | 实施日期 | 2016-06-01 | | 旧标准 (被替代) | SJ 2749-1987 | | 标准依据 | Ministry of Industry and Information Technology Bulletin 2016 No.3 | | 发布机构 | 工业和信息化部 | | 范围 | 本标准规定了半导体激光二极管的光学、电学和热学参数的测试方法。适用于带或不带尾纤的半导体激光二极管。 | ......
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