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标准号码 |
标准名称 |
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SJ/T 10043-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路.CT54LS112/CT74LS112型双下降沿J-K触发器（有预置端、清除端）
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SJ/T 10044-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54LS283/CT74LS283型4位二进制超前进位全加器
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SJ/T 10045-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54LS138/CT74LS138型3线—8线译码器
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SJ/T 10046-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54LS151/CT74LS151型8选1数据选择器
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SJ/T 10047-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54LS195/CT74LS195型4位移位寄存器（并行存取）
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SJ/T 10048-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54LS169/CT74LS169型4位二进制同步加/减计数器
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SJ/T 10068-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CH2005型双下降沿J-K触发器
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SJ/T 10069-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CH2019型4线-10线译码器(BCD输入)
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SJ/T 10070-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CH2021型4位二进制同步加/减计数器(双时钟)
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SJ/T 10071-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CH2022型4位移位寄存器
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SJ/T 10072-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CE8602型500MHz÷2分频器
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SJ/T 10073-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CW7915型三端负稳压器(可供认证用)
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SJ/T 10074-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CJ 75188型四线驱动器
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SJ/T 10075-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CJ 75361型双TTL-MOS驱动器
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SJ/T 10076-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CJ 710型电压比较器
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SJ/T 10077-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CJ 75491型MOS-LED显示驱动器
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SJ/T 10078-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54107/CT74107型双主从J-K触发器（有清除端）
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SJ/T 10079-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54182/CT74182型超前进位产生器
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SJ/T 10080-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CT5442/CT7442型4线-10线译码器（BCD输入）
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SJ/T 10081-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54153/CT74153型双4选1数据选择器
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SJ/T 10082-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54195/CT74195型4位移位寄存器（并行存取，J-K输入）
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SJ/T 10083-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54161/CT74161型4位二进制同步计数器（异步清除）
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SJ/T 10084-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54H20/CT74H20型双4输入与非门
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SJ/T 10085-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54H74/CT74H74型双上升沿D触发器（有预置端、清除端）
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SJ/T 10086-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54H183/CT74H183型双进位保留全加器
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SJ/T 10147-1991
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集成电路防静电包装管
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SJ/T 10152-1991
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集成电路主要工艺设备术语
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SJ/T 10175-1991
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半导体集成电路多层陶瓷双列直插外壳详细规范
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SJ/T 10176-1991
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半导体集成电路金属菱形外壳详细规范
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SJ/T 10252-1991
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电子元器件详细规范 半导体集成电路CB7660型CMOS数字锁相环详细规范
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SJ/T 10253-1991
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电子元器件详细规范 半导体集成电路CC4046型CMOS数字锁相环详细规范
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SJ/T 10254-1991
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电子元器件详细规范 半导体集成电路CB301型CMOS模拟开关详细规范
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SJ/T 10255-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CW1403型精密带隙电压基准(可供认证用)
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SJ/T 10257-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CD3220CP型带ALC双前置放大器
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SJ/T 10258-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CD1405CP型五点LED电平显示驱动器
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SJ/T 10259-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CD2822CP型双音频功率放大器
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SJ/T 10260-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CD7232CS型双音频功率放大器
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SJ/T 10261-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CD 7343 GS型锁相环调频立体声解码器
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SJ/T 10262-1991
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电子元器件详细规范 半导体集成电路CD7640GP调频/调幅中频放大器详细规范
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SJ/T 10263-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CD 7666 GP型双五点LED电平显示驱动器
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SJ/T 10264-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CD 3161 CS型双前置放大器
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SJ/T 10265-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CD 7668 GP型带ALC双前置放大器
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SJ/T 10266-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CF714型精密运算放大器(可供认证用)
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SJ/T 10267-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CF715型高速运算放大器(可供认证用)
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SJ/T 10268-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CF253型低功耗运算放大器(可供认证用)
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SJ/T 10269-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CF 155/CF255/CF355型JFET输入运算放大器(可供认证用)
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SJ/T 10270-1991
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电子元器件详细规范.半导体集成电路CF 3080型跨导运算放大器(可供认证用)
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SJ/Z 9015.2-1987
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半导体器件集成电路 第 2 部分：数字集成电路
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SJ 20253-1993
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HP435B型功率指示器检定规程
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SJ 21473.6-2021
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军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第6部分:脉冲抗扰度测量-同步瞬态注入法
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SJ 21473.7-2021
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军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第7部分:脉冲抗扰度测量-非同步瞬态注入法
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SJ 21614-2021
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用于军工电子设备的SMC/SMD器件防氧化控制要求
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SJ 21565.1-2020
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微波多芯片组件控氢要求 第1部分:总则
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SJ 21565.2-2020
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微波多芯片组件控氢要求 第2部分:释氢量测试方法
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SJ/T 10805-2018
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半导体集成电路 电压比较器测试方法
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SJ/T 11699-2018
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IP核可测性设计指南
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SJ/T 11700-2018
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IP核质量信息描述方法
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SJ/T 11703-2018
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数字微电子器件封装的串扰特性测试方法
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SJ/T 11704-2018
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微电子封装的数字信号传输特性测试方法
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SJ/T 11705-2018
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微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
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SJ/T 11706-2018
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半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
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SJ/T 11708-2018
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功率电机驱动器测试方法
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SJ/T 2406-2018
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微波电路型号命名方法
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SJ/Z 21354-2018
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SiP产品可组装性设计指南
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SJ/Z 21355-2018
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SiP产品气密性封装设计指南
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SJ/Z 21356-2018
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SiP产品芯片倒装工艺设计指南
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SJ/Z 21357-2018
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SiP产品芯片叠层工艺设计指南
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SJ 20938A-2018
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微波变频器测试方法
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SJ 21473.1-2018
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军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第1部分:通用条件和定义
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SJ 21473.2-2018
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军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第2部分:辐射抗扰度测量-TEM小室和宽带TEM小室法
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SJ 21473.3-2018
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军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第3部分:传导抗扰度测量-大电流注入(BCI)法
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SJ 21473.4-2018
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军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第4部分:传导抗扰度测量-射频功率直接注入法
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SJ 21473.5-2018
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军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第5部分:传导抗扰度测量-工作台法拉第笼法
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SJ 21147.1-2016
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军用集成电路电磁发射测量方法 第1部分:通用条件和定义
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SJ 21147.2-2016
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军用集成电路电磁发射测量方法 第2部分:辐射发射测量-TEM小室和宽带TEM小室法
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SJ 21147.3-2016
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军用集成电路电磁发射测量方法 第3部分:辐射发射测量-表面扫描法
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SJ 21147.4-2016
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军用集成电路电磁发射测量方法 第4部分:传导发射测量-1Ω/150Ω直接耦合法
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SJ 21147.5-2016
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军用集成电路电磁发射测量方法 第5部分:传导发射测量-工作台法拉第笼法
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SJ 20954-2006
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集成电路锁定试验
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SJ 20961-2006
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集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
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SJ 20938-2005
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微波电路变频器测试方法
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SJ 20802-2001
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集成电路金属外壳目检标准
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SJ 20668-1998
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微电路模块总规范
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SJ 20645-1997
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微波电路放大器测试方法
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SJ 20610-1996
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微波电路.微波开关测试方法
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SJ 20611-1996
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微波电路.固态噪声源测试方法
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SJ 20612-1996
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微波电路.参数文字符号
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SJ/T 10805-1996
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半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理
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SJ 20077-1992
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微电路应用热设计指南
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SJ 2559-1984
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S-100总线规范
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SJ 21551-2020
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大功率半导体激光器芯片通用规范
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SJ 50033/197-2018
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半导体光电子器件 GH3202Z型光电耦合器详细规范
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SJ 50033/198-2018
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半导体光电子器件 GH3201Z-2型光电耦合器详细规范
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SJ 50033/199-2018
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半导体光电子器件 GH4420Z型光电耦合器详细规范
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SJ 58119/1-2018
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半导体光电子器件 GD3561T型铟镓砷光电二极管详细规范
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SJ 58119/2-2018
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半导体光电子器件 GD3562T型铟镓砷光电二极管详细规范
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SJ 58119/3-2018
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半导体光电子器件 GT322D-60-SM-FC/APC型光电探测器详细规范
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SJ/T 2214-2015
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半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
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SJ/T 2216-2015
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硅光电二极管技术规范
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SJ/T 2354-2015
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ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法
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