GB/T 14032-1992 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB/T 14032-1992 | 349 | GB/T 14032-1992 | [PDF]天数 <=3 | 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 14032-1992 (GB/T14032-1992) |
| 中文名称 | 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理 |
| 英文名称 | General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | L55 |
| 国际标准分类 | 31.2 |
| 字数估计 | 10,113 |
| 发布日期 | 12/17/1992 |
| 实施日期 | 8/1/1993 |
| 发布机构 | 国家技术监督局 |
| 范围 | 本标准规定了半导体集成电路数字锁相环(以下简称器件或数字锁相环)电参数测试方法的基本原理。 |
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