| 标准编号 | GB/T 26807-2011 (GB/T26807-2011) | | 中文名称 | 硅压阻式动态压力传感器 | | 英文名称 | Silicon piezoresistive dynamic pressure sensors | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | N11 | | 国际标准分类 | 17.100 | | 字数估计 | 22,296 | | 发布日期 | 2011-07-29 | | 实施日期 | 2011-12-01 | | 引用标准 | GB/T 2423.1-2008; GB/T 2423.2-2008; GB/T 2423.3-2006; GB/T 2423.5-1995; GB/T 2423.10-2008; GB/T 2423.15-2008; GB/T 2423.22-2002; GB/T 2829-2002; GB/T 7666-2005; GB/T 14479; GB/T 15478; JJG 624-2005 | | 标准依据 | 国家标准批准发布公告2011年第12号 | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | 本标准规定了硅压阻式动态压力传感器的分类与命名、基本参数、要求、检验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本标准适用于硅压阻式动态压力传感器(以下简称传感器)的生产、使用、验收等。 | GB/T 26807-2011
Silicon piezoresistive dynamic pressure sensors
ICS 17.100
N11
中华人民共和国国家标准
硅压阻式动态压力传感器
2011-07-29发布
2011-12-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
目次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 分类与命名 1
3.1 分类 1
3.2 型号命名与图形符号 1
4 基本参数 2
4.1 测量范围 2
4.2 被测压力介质及兼容性 2
4.3 激励 2
4.4 标称桥阻 2
4.5 工作介质温度范围 2
4.6 工作环境温度范围 2
4.7 补偿温度范围 2
4.8 贮存温度范围 2
5 要求 2
5.1 总则 2
5.2 外观 3
5.3 外形及安装尺寸 3
5.4 输入阻抗 3
5.5 输出阻抗 3
5.6 负载阻抗 3
5.7 绝缘电阻 3
5.8 绝缘强度 3
5.9 静态性能 3
5.10 过载 4
5.11 零点漂移 4
5.12 热零点漂移 4
5.13 热满量程输出漂移 4
5.14 零点长期稳定性(必要时) 4
5.15 动态性能 4
5.16 环境影响特性 5
5.17 疲劳寿命(必要时) 5
6 试验方法 5
6.1 环境条件 5
6.2 校准条件 5
6.3 外观 6
6.4 外形及安装尺寸 6
6.5 输入阻抗 6
6.6 输出阻抗 6
6.7 负载阻抗 6
6.8 绝缘电阻 6
6.9 绝缘强度 6
6.10 静态性能 6
6.11 过载 7
6.12 零点漂移 7
6.13 热零点漂移 7
6.14 热满量程输出漂移 7
6.15 零点长期稳定性 7
6.16 动态性能 8
6.17 环境影响试验 8
6.18 疲劳寿命 9
7 检验规则 9
7.1 检验分类 9
7.2 出厂检验 9
7.3 型式检验 10
8 标志、包装、运输及贮存 11
8.1 产品标志 11
8.2 包装 11
8.3 运输 12
8.4 贮存 12
附录A(规范性附录) 传感器性能指标的计算方法 13
A.1 实际工作特性 13
A.2 参比工作直线 13
A.3 满量程输出值(YF.S) 14
A.4 非线性(ξL) 14
A.5 迟滞(ξH) 15
A.6 重复性(ξR) 15
A.7 准确度(ξ) 15
A.8 零点漂移(dz) 16
A.9 零点长期稳定性(rz) 16
A.10 热零点漂移(α) 17
A.11 热满量程输出漂移(β) 17
A.12 振动对传感器零点影响(Z0) 17
A.13 外磁场对传感器输出的影响(Cc) 17
前言
本标准附录A为规范性附录。
本标准由中国机械工业联合会提出并归口。
本标准起草单位:昆山双桥传感器测控技术有限公司、沈阳仪表科学研究院、传感器国家工程研究
中心、国家仪器仪表元器件质量监督检验中心。
本标准主要起草人:尤彩红、刘沁、王冰、王文襄、刘波、徐秋玲、徐长伍、唐慧、李延夫。
硅压阻式动态压力传感器
1 范围
本标准规定了硅压阻式动态压力传感器的分类与命名、基本参数、要求、检验方法、检验规则及标
志、包装、运输和贮存。
本标准适用于硅压阻式动态压力传感器(以下简称传感器)的生产、使用、验收等。
2 规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有
的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究
是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温(IEC 60068-2-
1:2007,IDT)
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温(IEC 60068-2-
2:2007,IDT)
GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验
(IEC 60068-2-78:2001,IDT)
GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击
(idt IEC 60068-2-27:1987)
GB/T 2423.10-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦)
(IEC 60068-2-6:1995,IDT)
GB/T 2423.15-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ga和导则:稳态加速
度(IEC 60068-2-7:1986,IDT)
GB/T 2423.22-2002 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 N:温度变化
(IEC 60068-2-14:1984IDT)
GB/T 2829-2002 周期检查计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验)
GB/T 7666-......
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