| 标准编号 | GB/T 31568-2015 (GB/T31568-2015) | | 中文名称 | 热喷涂热障ZrO2涂层晶粒尺寸的测定 谢乐公式法 | | 英文名称 | Standard test method for determination of crystallite size of ZrO2 coatings by Scherrer equation | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | A29 | | 国际标准分类 | 25.220.20 | | 字数估计 | 13,168 | | 发布日期 | 2015-05-15 | | 实施日期 | 2016-01-01 | | 标准依据 | 国家标准公告2015年第15号 | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | 本标准规定了应用X射线衍射谢乐公式法测定热喷涂热障ZrO2涂层试样中立方、四方、单斜三种相ZrO2晶粒尺寸的方法原理、测试条件及计算步骤等。本标准适用于晶粒尺寸在2 nm～100 nm范围、内部无不均匀应变的试样。 | GB/T 31568-2015
Standard test method for determination of crystallite size of ZrO2 coatings by Scherrer equation
ICS 25.220.20
A29
中华人民共和国国家标准
热喷涂热障ZrO2涂层
晶粒尺寸的测定 谢乐公式法
2015-05-15发布
2016-01-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
前言
本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国金属与非金属覆盖层标准化技术委员会(SAC/TC57)归口。
本标准起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所。
本标准主要起草人:程国峰、黄月鸿、阮音捷、曾毅、宋力昕。
热喷涂热障ZrO2涂层
晶粒尺寸的测定 谢乐公式法
1 范围
本标准规定了应用X射线衍射谢乐公式法测定热喷涂热障ZrO2 涂层试样中立方、四方、单斜三种
相ZrO2 晶粒尺寸的方法原理、测试条件及计算步骤等。
本标准适用于晶粒尺寸在2nm~100nm范围、内部无不均匀应变的试样。
2 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
2.1
采用热喷涂制备工艺制备的ZrO2 基的涂层材料。
2.2
晶粒 crystalite
内部分子、原子等有规律排列的微小单晶。
2.3
晶粒尺寸 crystalitesize
Lhkl
晶粒在(hkl)晶面法线方向上的平均尺度。
2.4
衍射峰峰高极大值一半处的峰宽。
3 方法原理
对试样照射X射线,测量所得到的衍射线,假设试样中没有晶体结构的不完整,则衍射线的宽化仅
由晶粒的细化引起,可利用式(1)(谢乐公式)计算晶粒尺寸:
Lhkl=
Kλ
βhklcosθ
(1)
式中:
Lhkl ---晶粒在(hkl)晶面法线方向的平均尺度,单位为纳米(nm);
K ---常数,与βhkl 的定义有关。当βhkl 定义为半高宽时,K =0.89;
λ ---实验所用的X射线波长,0.154......
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