| 标准编号 | GB/T 43061-2023 (GB/T43061-2023) | | 中文名称 | 半导体集成电路 PWM控制器测试方法 | | 英文名称 | Semiconductor integrated circuits - Test methods of PWM controller | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L55 | | 国际标准分类 | 31.200 | | 字数估计 | 54,594 | | 发布日期 | 2023-09-07 | | 实施日期 | 2024-04-01 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 | GB/T 43061-2023: 半导体集成电路 PWM控制器测试方法
ICS 31.200
CCSL55
中华人民共和国国家标准
半导体集成电路
PWM控制器测试方法
2023-09-07发布
2024-04-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 一般测试要求 5
4.1 测试环境要求 5
4.2 测试注意事项 5
4.3 测试仪器和设备 6
5 测试条件和测试程序 6
5.1 基准源单元 6
5.1.1 基准电压(VREF) 6
5.1.2 电压调整变化量(SV) 7
5.1.3 电流调整变化量(SI) 8
5.1.4 基准电压温度系数(ST) 9
5.1.5 输出电压总体变化范围(VTOT) 9
5.1.6 输出噪声电压(VNO) 10
5.1.7 输出短路电流(IOS) 11
5.2 振荡器单元 12
5.2.1 初始频率(fI) 12
5.2.2 电压稳定性(fV) 13
5.2.3 温度稳定性(fT) 14
5.2.4 频率总体变化范围(fTOT) 15
5.2.5 最低工作频率(fmin) 16
5.2.6 最高工作频率(fmax) 17
5.2.7 输出脉冲高电平电压[VOH(osc)] 18
5.2.8 输出脉冲低电平电压[VOL(osc)] 19
5.2.9 输出脉冲电压幅度[VOA(osc)] 19
5.2.10 输出脉冲宽度(tW) 20
5.2.11 锯齿波峰值电压[VP(ramp)] 21
5.2.12 锯齿波谷值电压[VV(ramp)] 22
5.2.13 锯齿波谷-峰值电压幅度[VA(ramp)] 22
5.2.14 同步端输入电流[II(sync)] 23
5.2.15 同步阈值电压[VTH(sync)] 24
5.3 误差放大器单元 25
5.3.1 输入失调电压(VIO) 25
5.3.2 输入偏置电压(VIB) 25
5.3.3 输入失调电流(IIO) 25
5.3.4 输入偏置电流(IIB) 25
5.3.5 开环电压增益(AVD) 25
5.3.6 共模抑制比(KCMR) 25
5.3.7 电源电压抑制比(KSVR) 25
5.3.8 共模输入电压范围(VICM) 25
5.3.9 输出电压转换速率(SR) 25
5.3.10 单位增益带宽(fBWG) 25
5.3.11 输出电流(ISO URCE) 25
5.3.12 输入电流(ISINK) 26
5.3.13 输出高电平电压(VOH) 27
5.3.14 输出低电平电压(VOL) 28
5.4 PWM比较器单元 29
5.4.1 占空比调节范围(q) 29
5.4.2 零占空比阈值电压[VTH(zq)] 30
5.4.3 最大占空比阈值电压[VTH(mq)] 31
5.4.4 输出延迟时间[tdr(pwm)/tdf(pwm)] 33
5.5 输出驱动单元 34
5.5.1 输出低电平电压[VOL(drv)] 34
5.5.2 输出高电平电压[VOH(drv)] 35
5.5.3 输出上升/下降时间(tr/tf) 36
5.5.4 输出漏电流[IO(off)] 38
5.6 软启动单元 38
5.6.1 充电电流(ICHG) 38
5.6.2 放电电流(IDCG) 39
5.7 限流保护/关断单元 40
5.7.1 关断阈值电压[VTH(sd)] 40
5.7.2 关断-输出延迟时间[td(sd)] 41
5.8 欠压锁定单元 43
5.8.1 启动电压[VCC(st)] 43
5.8.2 最小工作电压[VCC(min)] 44
5.8.3 迟滞电压(ΔVCC) 45
5.9 功耗 46
5.9.1 启动电源电流[ICC(st)] 46
5.9.2 电源电流(ICC) 46
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中华人民共和国工业与信息化部提出。
本文件由全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC78)归口。
本文件起草单位:中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所、成都华微电子科技有限
公司、西安电子科技大学。
本文件主要起草人:穆永杰、邓些鹏、贾宁刚、闫永超、杨晓萍、王策、包军林、杨博、胡巧玉。
半导体集成电路
PWM控制器测试方法
1 范围
本文件描述了半导体集成电路脉冲宽度调制(PWM)控制器(以下简称器件)参数测试方法。
本文件适用于半导体集成电路领域中PWM控制器参数的测试。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文
件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于
本文件。
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1 基准源单元
3.1.1
基准电压 referencevoltage
在规定的电源电压和负载电流下,基准源的输出电压。
3.1.2
电压调整变化量 voltageregulation
在规定的负载电流下,基准源输出电压随电源电压的变化量。
3.1.3
电流调整变化量 currentre......
|