GB/T 47082-2026 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB/T 47082-2026 | 159 | GB/T 47082-2026 | [PDF]天数 <=3 | 碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 47082-2026 (GB/T47082-2026) |
| 中文名称 | 碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法 |
| 英文名称 | Test method for stacking faults of polished monocrystalline silicon carbide wafers |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | H17 |
| 国际标准分类 | 77.040 |
| 发布日期 | 2026-01-28 |
| 实施日期 | 2026-08-01 |
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