GBZ107-2025 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| GB/Z 107-2025 | RFQ | 询价 | [PDF]天数 <=3 | 半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估 |
| GBZ 107-2015 | 169 | GBZ 107-2015 | [PDF]天数 <=3 | 职业性放射性性腺疾病诊断 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/Z 107-2025 (GB/Z107-2025) |
| 中文名称 | 半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估 |
| 英文名称 | (Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices) |
| 行业 | 国家标准 |
| 发布日期 | 2025-12-03 |
| 实施日期 | 2025-12-03 |