SJH 1550-1979 相关标准英文版PDF
| 标准号码 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 |
| SJ 1550-1979 | 359 | SJ 1550-1979 | [PDF]天数 <=3 | 硅外延片检测方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ 1550-1979 (SJ1550-1979) |
| 中文名称 | 硅外延片检测方法 |
| 英文名称 | Method of inspection for silicon epitaxial wafers |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | H81 |
| 字数估计 | 9,961 |
| 实施日期 | 6/1/1980 |
| 标准依据 | 工科(2010) 第77号 |
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